Procedimiento de control y de diagnóstico de una arquitectura fotovoltaica.
Procedimiento de control y de diagnóstico de una arquitectura fotovoltaica,
comprendiendo la mencionada arquitectura varias cadenas (Ch1, Ch2) de módulos fotovoltaicos (Mi) conectadas en paralelo, comprendiendo cada cadena de módulos fotovoltaicos varios módulos fotovoltaicos conectados en serie, incluyendo cada módulo fotovoltaico varias células fotovoltaicas (Cx) conectadas en serie, comprendiendo la indicada arquitectura diodos de derivación para derivar cada una o varias células del módulo si una célula falla, caracterizándose el mencionado procedimiento por que para al menos un módulo fotovoltaico, comprende las etapas siguientes:
- Adquisición de varios valores de temperatura para cada célula (Cx) de dicho módulo en el transcurso del tiempo, con el fin de formar para cada célula un perfil de temperatura en función del tiempo,
- Determinación de un valor de temperatura de referencia (Tref) de una célula a partir de los valores de temperatura adquiridos,
- Para un perfil de temperatura de una célula del módulo, en comparación con un valor de temperatura adquirido con el indicado valor de temperatura de referencia con el fin de determinar una diferencia de temperatura,
- Determinación del estado de funcionamiento de cada célula comparando dicha diferencia de temperatura determinada con un valor umbral (Vs) almacenado.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E17194471.
Solicitante: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES.
Inventor/es: AL SHAKARCHI,FRANCK, PLISSONNIER,ALEXANDRE.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- H02S50/10 ELECTRICIDAD. › H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA. › H02S GENERACIÓN DE ENERGÍA ELÉCTRICA MEDIANTE LA CONVERSIÓN DE LA RADIACIÓN INFRARROJA, LUZ VISIBLE O LUZ ULTRAVIOLETA, p. ej. UTILIZANDO MÓDULOS FOTOVOLTAICOS [FV] (obtención de energía eléctrica a partir de fuentes radiactivas G21H 1/12; dispositivos semiconductores inorgánicos sensibles a la luz H01L 31/00; dispositivos termoeléctricos H01L 35/00; dispositivos piroeléctricos H01L 37/00; dispositivos semiconductores orgánicos sensibles a la luz H01L 51/42). › H02S 50/00 Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos. › Ensayos de dispositivos FV, p. ej. de módulos FV o células FV individuales (ensayo de dispositivos semiconductores durante su fabricación H01L 21/66).
PDF original: ES-2748842_T3.pdf
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