Procedimiento y dispositivo para la inversión interferométrica con muestreo libre.

Procedimiento de medición de una variable característica de una fuente de radiación y/o de un medio atravesado por la radiación entre la fuente y un interferómetro,

siendo el interferómetro apto para elaborar un interferograma de la radiación creando un número finito de diferencias de trayectoria óptica entre dos rayos que han seguido el mismo camino entre la fuente y el interferómetro, comprendiendo el procedimiento:

- una inversión interferométrica realizada sobre la base del interferograma, de manera que se obtenga una medición de la variable característica,

estando el procedimiento caracterizado por que comprende las etapas que consisten en:

- estimar la contribución de cada diferencia de trayectoria en la etapa de inversión interferométrica, utilizando una modelización por un código de transferencia por radiación;

- realizar una selección de entre las diferencias de trayectoria, sin restricciones de regularidad de muestreo, en función de los resultados de la etapa de estimación, comprendiendo la realización de la selección la utilización de una magnitud que caracteriza el rendimiento o la mejora de la inversión interferométrica, y la repetición de manera iterativa de las etapas siguientes:

a: inicialmente, no se selecciona ninguna diferencia de trayectoria;

b: se calcula para cada diferencia de trayectoria el aumento de la magnitud que caracteriza el rendimiento o la mejora de la inversión interferométrica, cuando se añade dicha diferencia de trayectoria al conjunto de las diferencias de trayectoria seleccionadas previamente, haciendo este cálculo que intervengan las jacobianas del interferograma, es decir las derivadas parciales de la señal del interferograma con respecto a la o las magnitudes que se deben invertir;

c: se añade la diferencia de trayectoria, que optimiza dicha magnitud, al conjunto de las diferencias de trayectoria seleccionadas, y se vuelve a la etapa b, hasta alcanzar un número máximo de diferencias de trayectoria seleccionadas o hasta que dicha magnitud sobrepase un umbral predeterminado;

- elaborar el interferograma utilizando únicamente las diferencias de trayectoria seleccionadas, y

- medir la variable característica de la fuente de radiación y/o del medio atravesado en función de las informaciones contenidas en el interferograma elaborado utilizando únicamente las diferencias de trayectoria seleccionadas, sin reconstrucción de un espectro de la radiación muestreada a partir del interferograma.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2008/064975.

Solicitante: CENTRE NATIONAL D'ETUDES SPATIALES.

Inventor/es: ROSAK,ALAIN, PIERANGELO,CLÉMENCE.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01J3/45 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES.G01J 3/00 Espectrometría; Espectrofotometría; Monocromadores; Medida del color. › Espectrometría por interferencia.

PDF original: ES-2795403_T3.pdf

 

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