Detector de rayos X semiconductor.

Un aparato (100) adecuado para detectar rayos X que comprende:



una capa de absorción de rayos X (110) que comprende un electrodo;

un primer comparador de tensión (301) configurado para comparar una tensión del electrodo con un primer umbral;

un segundo comparador de tensión (302) configurado para comparar la tensión con un segundo umbral; un contador (320) configurado para registrar una cantidad de fotones de rayos X absorbidos por la capa de absorción de rayos X;

un controlador (310);

en donde el controlador se configura para iniciar un retraso de tiempo desde un momento en donde el primer comparador de tensión determina que un valor absoluto de la tensión es igual o superior a un valor absoluto del primer umbral;

en donde el controlador se configura para activar el segundo comparador de tensión durante el retraso de tiempo;

en donde el controlador se configura para hacer que el número registrado por el contador aumente en uno, si el segundo comparador de tensión determina que un valor absoluto de la tensión es igual o superior a un valor absoluto del segundo umbral.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/CN2015/075950.

Solicitante: Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd.

Nacionalidad solicitante: China.

Dirección: Suite 201, Building B52, Tanglang Industrial Area, No. 13 at No. Five Xinyi Road, Tanglang Community, Taoyuan Str. Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518071 CHINA.

Inventor/es: CAO,PEIYAN.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • A61B6/03 SECCION A — NECESIDADES CORRIENTES DE LA VIDA.A61 CIENCIAS MEDICAS O VETERINARIAS; HIGIENE.A61B DIAGNOSTICO; CIRUGIA; IDENTIFICACION (análisis de material biológico G01N, p.ej. G01N 33/48). › A61B 6/00 Aparatos de diagnóstico por radiación, p. ej. combinados con el equipo de radioterapia (instrumentos para la medida de la intensidad de la radiación de aplicación en el campo de la medicina nuclear, p. ej. en vivo cómputo, G01T 1/161; aparatos para la toma de fotografías de rayos X G03B 42/02). › Tomografía computerizada (ecotomografía A61B 8/14).
  • G01N23/083 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales por la utilización de radiaciones (ondas o partículas) no cubiertos por el grupo G01N 21/00 ó G01N 22/00, p. ej. rayos X, neutrones (G01N 3/00 - G01N 17/00 tienen prioridad). › consistiendo la radiación en rayos X (G01N 23/10 - G01N 23/18 tienen prioridad).
  • G01T1/16 G01 […] › G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 1/00 Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas (G01T 3/00, G01T 5/00 tienen prioridad). › Medida de la intensidad de radiación (G01T 1/29 tiene prioridad).
  • G01T1/17 G01T 1/00 […] › Disposiciones de circuitos no adaptados a un tipo particular de detector.
  • G01T1/24 G01T 1/00 […] › con detectores de semiconductores.

PDF original: ES-2795831_T3.pdf

 

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