Sistema y método de inspección por luz de la superficie e interior de una muestra.
Un sistema de inspección por luz de la superficie e interior de una muestra,
comprendiendo el sistema: una fuente de luz (10) configurada para generar un haz de luz (LB) que tiene un espectro de banda ancha con una potencia óptica dada para incidir sobre una muestra (1) localizada a una distancia dada, comprendiendo dicha muestra (1) unos coeficientes de translucidez y absorción dados;
una unidad de captura de luz;
un sistema de captura de imagen (20) configurado para obtener una imagen de dicha muestra (1) tras dicha incidencia, comprendiendo dicho sistema de captura de imagen (20) un espejo parabólico (21) con un orificio, permitiendo dicho espejo parabólico (21):
el paso del haz de luz (LB) hacia la muestra (1) a través del orificio,
la redirección del componente de luz dispersado de la muestra (1) hacia dicha unidad de captura de luz y la eliminación de la luz procedente de la reflexión directa en la muestra (1) a través de dicho orificio;
incluyendo dicha unidad de captura de luz una agrupación de fibras bifurcadas (15) que tienen un extremo común y que comprenden una fibra central (17) y al menos una fibra externa (16), situándose dicha fibra central (17) para recibir la luz dispersada al menos desde la superficie (1S) de la muestra (1) y situándose dicha al menos una fibra externa (16) a una distancia dada de la fibra central (17) para recibir exclusivamente la luz dispersada desde el interior (11) de la muestra (1); y
un sistema de medición (30) configurado para medir una potencia y/o un espectro recogido independientemente en la fibra central (17) y en la al menos una fibra externa (16), en el que dicha imagen de la muestra (1) se obtiene en un plano transversal del extremo común de la agrupación de fibras bifurcadas (15).
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E17382427.
Solicitante: FYLA LASER, S.L.
Inventor/es: PEREZ MILLAN,PERE, TORRES PEIRÓ,SALVADOR, ABREU AFONSO,JAVIER, MUÑOZ MARCO,HÉCTOR, OTGON,VIOREL.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/47 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Dispersión, es decir, reflexión difusa (G01N 21/25, G01N 21/41 tienen prioridad).
- G01N21/49 G01N 21/00 […] › en un cuerpo o en un líquido.
PDF original: ES-2725482_T3.pdf
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