Dispositivo de control de tarjetas electrónicas.

Dispositivo (11) de control de tarjetas electrónicas (14), comprendiendo este dispositivo (11):



- una base (12) en la cual se disponen unos clavos (13) conductores, con la punta (17) hacia arriba;

- una estructura (15) provista también de clavos (13), con la punta (17) hacia abajo, dicha estructura (15);

y

- un medio de desplazamiento vertical (20, 21) adecuado para acercar los clavos (13) dispuestos en la estructura (15) a los clavos (13) dispuestos en la base (12) de forma que se permita un contacto de dichos clavos (13) en las dos caras de una tarjeta electrónica (14),

caracterizado porque dicha estructura es una tapa (15) de cierre del dispositivo (11), estando dichos clavos (13) con la punta (17) hacia abajo en posición de tapa (15) cerrada, y siendo móvil dicha tapa (15) en desplazamiento horizontal (10) entre una posición de apertura del dispositivo (11) y una posición intermedia.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FR2012/052842.

Solicitante: Larisys Industries.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: Rue Jean Louis Guiot 67220 Neuve Eglise FRANCIA.

Inventor/es: MAHDJOUB,MORAD, CHARRIER,MARJORIE, CONSTANT,CÉLINE.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R1/04 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 1/00 Detalles o disposiciones de aparatos de los tipos incluidos en los grupos G01R 5/00 - G01R 13/00 y G01R 31/00 (detalles estructurales particulares a disposiciones electromecánicas para medir el consumo eléctrico G01R 11/02). › Carcasas; Organos de soporte; Disposiciones de bornas.
  • G01R1/073 G01R 1/00 […] › Sondas múltiples.
  • G01R31/04
  • G01R31/28 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).

PDF original: ES-2700949_T3.pdf

 

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