Circuito de detección de anomalías de inserción de interfaz y método para detectar un acoplamiento de interfaz anormal.

Un circuito para detectar un acoplamiento de interfaz anormal,

que comprende: un circuito (4) de alimentación;

una primera interfaz (1) USB, que comprende un primer cable de alimentación y un primer cable de señal, donde un extremo de alimentación del primer cable de alimentación está acoplado con el circuito (4) de alimentación.

una segunda interfaz (2) USB, que comprende un segundo cable de alimentación y un segundo cable de señal, donde el segundo cable de alimentación y el segundo cable de señal están cortocircuitados; la segunda interfaz (2) USB está acoplada con la primera interfaz (1) USB, de manera que el segundo cable de señal está acoplado con el primer cable de señal; el primer cable de alimentación está configurado para recibir una señal de alimentación emitida por el circuito (4) de alimentación, y para emitir la señal de alimentación recibida al segundo cable de alimentación en la segunda interfaz (2) USB acoplada con la primera interfaz (1) USB;

caracterizado por un controlador (3), que comprende un primer extremo de muestreo de tensión acoplado con el extremo de alimentación del primer cable de alimentación en la primera interfaz (1) USB, y un segundo extremo de muestreo de tensión acoplado con un extremo de señal del primer cable de señal en la primera interfaz (1) USB; y configurado para adquirir una tensión del primer cable de alimentación y una tensión del primer cable de señal en la primera interfaz (1) USB a través del acoplamiento entre la primera interfaz (1) USB y la segunda interfaz (2) USB, para calcular una diferencia de tensión entre la tensión del primer cable de alimentación y la tensión del primer cable de señal, y para determinar si el acoplamiento de la interfaz es anormal según la diferencia de tensión.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/CN2014/077046.

Solicitante: Guangdong OPPO Mobile Telecommunications Corp., Ltd.

Nacionalidad solicitante: China.

Dirección: No.18 Haibin Road, Wusha, Chang'an Dongguan, Guangdong 523841 CHINA.

Inventor/es: WU,JIE, ZHANG,JIALIANG, WU,KEWEI, YUAN,XINGWEI, SHUAI,FEIWU.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R31/04 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de conexiones, p. ej. enchufes, juntas no desconectables.

PDF original: ES-2728166_T3.pdf

 

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