Conjunto de sensores ópticos.

Conjunto de sensores ópticos que comprende varios sensores (D1,

D2) para la detección de ondas electromagnéticas y una abertura común asignada a los sensores (D1, D2), previéndose para la detección de las ondas electromagnéticas que inciden a través de la abertura al menos dos sensores (D1, D2) dispuestos uno detrás de otro, coincidiendo los sensores (D1, D2) dispuestos uno detrás de otro en sus zonas espectrales operativas y formando en sensor (D1) respectivamente anterior, visto en dirección a la radiación incidente, para el aumento del margen dinámico del conjunto de sensores en las zonas espectrales coincidentes de los sensores, un filtro amortiguador para los sensores (D2) dispuestos detrás.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/DE2013/000161.

Solicitante: HENSOLDT Sensors GmbH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: Willy-Messerschmitt-Strasse 1 82024 Taufkirchen ALEMANIA.

Inventor/es: BARTH,JOCHEN, ROTH,THOMAS, CZESLIK,CHRISTIAN.

Fecha de Publicación: 11 de Marzo de 2019.

Clasificación Internacional de Patentes:

F41G3/14 MECANICA; ILUMINACION; CALEFACCION; ARMAMENTO; VOLADURA. › F41 ARMAS. › F41G APARATOS DE MIRA; PUNTERIA (aspectos ópticos G02B). › F41G 3/00 Aparatos de puntería (dispositivos de mira F41G 1/00; determinación de la dirección, la distancia o la velocidad mediante ondas de radio u otras ondas G01S; computadores G06; antenas H01Q). › Dispositivos de tiro indirecto.
F41H11/02 F41 […] › F41H BLINDAJE; TORRETAS ACORAZADAS; VEHICULOS BLINDADOS O ARMADOS; MEDIOS DE ATAQUE O DE DEFENSA, p. ej. ENMASCARAMIENTO, EN GENERAL. › F41H 11/00 Instalaciones de defensa; Mecanismos de defensa (aspectos constructivos, ver sección E, p. ej. E04H 9/04 ); Medios para limpiar o detectar minas terrestres. › Instalaciones o sistemas de defensa antiaérea o antimisil (cartuchos o proyectiles para la producción de humo o para la liberación de cintas metálicas antirradar o de infrarrojos F42B 5/15, F42B 12/48, F42B 12/70).
G01J3/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES. › Espectrometría; Espectrofotometría; Monocromadores; Medida del color.
G01S7/48 G01 […] › G01S LOCALIZACION DE LA DIRECCION POR RADIO; RADIONAVEGACION; DETERMINACION DE LA DISTANCIA O DE LA VELOCIDAD MEDIANTE EL USO DE ONDAS DE RADIO; LOCALIZACION O DETECCION DE PRESENCIA MEDIANTE EL USO DE LA REFLEXION O RERRADIACION DE ONDAS DE RADIO; DISPOSICIONES ANALOGAS QUE UTILIZAN OTRAS ONDAS. › G01S 7/00 Detalles de sistemas según los grupos G01S 13/00, G01S 15/00, G01S 17/00. › de sistemas de acuerdo con el grupo G01S 17/00.
G01S7/495 G01S 7/00 […] › Contramedidas o contra-contramedidas.
H01L23/00 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctricas en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › Detalles de dispositivos semiconductores o de otros dispositivos de estado sólido (H01L 25/00 tiene prioridad).

PDF original: ES-2703538_T3.pdf

Patentes similares o relacionadas:

Método de reconstrucción de imágenes basado en modelo, del 6 de Mayo de 2020, de ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL): Un método de reconstrucción de imágenes de ondas de pulso que comprende: • transmitir un conjunto de ondas de pulso a un objeto […]

Procedimiento para la detección y localización de un garaje y vehículo, del 6 de Mayo de 2020, de AUDI AG: Procedimiento para la detección y localización de al menos un garaje que ofrezca una plaza de aparcamiento para un vehículo en el vehículo , en donde el vehículo […]

Sistema y método de alerta de amenaza de láser, del 4 de Marzo de 2020, de ELBIT SYSTEMS LTD.: Un sistema de alerta de amenaza de láser, configurado para detectar la presencia de una radiación de láser transmitida por una fuente […]

Procedimiento para determinar una disposición de al menos dos sensores y red de sensores, del 2 de Octubre de 2019, de Siemens Mobility GmbH: Procedimiento para determinar una disposición de al menos dos sensores entre sí, en el que se detecta un objeto en movimiento por medio de […]

Sensor para detectar y localizar fuentes de radiación láser, del 17 de Julio de 2019, de HENSOLDT Sensors GmbH: Sensor para detectar y localizar fuentes de radiación láser con - un detector sensible a la radiación dispuesto en el campo de la imagen de una óptica […]

Aparato y método para determinar elementos de referencia de un entorno, del 12 de Junio de 2019, de BALYO: Un método para determinar elementos de referencia de un entorno para asociar un mapa predeterminado con un mapa del entorno en tiempo real, comprendiendo el método […]

Procedimiento para la detección de radiación láser pulsada, así como avisador de láser productor de imágenes, del 15 de Mayo de 2019, de HENSOLDT Sensors GmbH: Procedimiento para la detección de radiación láser pulsada con resolución bidimensional de la dirección de incidencia, caracterizado […]

CONFIGURACION Y PROCEDIMIENTO PARA LA MEDICION SIMULTANEA DE LA VELOCIDAD ASI COMO DE LA FORMA DE LA SUPERFICIE DE OBJETOS QUE SE MUEVEN, del 19 de Noviembre de 2009, de SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT: Configuración para medir la velocidad o la forma de la superficie de objetos que se han movido o una combinación de ello en base a mediciones de retardo de la luz, caracterizada […]