Sistema de TC y dispositivo de detección para el sistema de TC.

Un dispositivo de detección (16) para un sistema de TC que comprende:



un conjunto de detectores de baja energía (1) que tiene un espesor en una dirección de espesor, y que comprende detectores de baja energía y matriz de superficie distribuidos sobre una superficie cilíndrica circular; y

un conjunto de detectores de alta energía (3) dispuesto debajo del conjunto de detectores de baja energía (1), en la dirección del espesor, el conjunto de detectores de alta energía (3) comprende:

una pluralidad de filas de detectores de alta energía (31) dispuestos en intervalos predeterminados, y el conjunto de detectores de baja energía (1) que comprende:

primeros detectores de baja energía que coinciden con la pluralidad de filas de detectores de alta energía (31) del conjunto de detectores de alta energía (3) cuando se observan en la dirección del espesor y

segundos detectores de baja energía que no coinciden con la pluralidad de filas de detectores de alta energía (31) del conjunto de detectores de alta energía (3) cuando se observan en la dirección del espesor, caracterizados porque la pluralidad de filas de detectores de alta energía (31) están dispuesta en una dirección axial de la superficie cilíndrica circular, y cada uno de los intervalos predeterminados comprende una zona sin detectores de alta energía que se encuentra entre dos filas adyacentes de detectores de alta energía (31) de la pluralidad de filas de detectores de alta energía (31) en la dirección axial.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/CN2013/079382.

Solicitante: Nuctech Company Limited.

Nacionalidad solicitante: China.

Dirección: 2nd Floor, Block A, TongFang Building, Shuangqinglu, Haidian District Beijing 100084 CHINA.

Inventor/es: JIN, XIN, CHANG, MING, LI, LIANG, ZHANG, LI, CHEN,Zhiqiang, LI,Yuanjing, XING,YUXIANG, TANG,HU, HUANG,QINGPING, SUN,YUNDA, SHEN,LE, HONG,MINGZHI, LIANG,JINNING, REN,QIANLU, DING,HUI.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N23/04 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales por la utilización de radiaciones (ondas o partículas) no cubiertos por el grupo G01N 21/00 ó G01N 22/00, p. ej. rayos X, neutrones (G01N 3/00 - G01N 17/00 tienen prioridad). › y formando una imagen.
  • G01T1/20 G01 […] › G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 1/00 Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas (G01T 3/00, G01T 5/00 tienen prioridad). › con detectores de centelleo.

PDF original: ES-2674124_T3.pdf

 

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