MÉTODO DE OPTIMIZACIÓN DE LA REPOTENCIACIÓN DE PLANTAS SOLARES FOTOVOLTAICAS MEDIANTE MANTENIMIENTO PREDICTIVO Y PREVENTIVO INTELIGENTE.
La invención es un método de optimizar la repotenciación de plantas solares fotovoltaicas aprovechando los mantenimientos preventivos y predictivos inteligentes que detectan los fallos de módulos o de células dentro de los módulos,
las inspecciones aéreas por termografía infrarroja y/o por electroluminiscencia. En el método objeto de la invención, los módulos defectuosos detectados se separan en grupos de distintos tipos de fallos: A ¿ fallo irreversible; B ¿ fallo reversible y C ¿ fallo parcialmente reutilizable. La repotenciación consiste en sustituir los módulos con fallo tipo A por otros nuevos, de mayor potencia, y reagruparlos conectados en serie en las mismas ramas (1). Los módulos con fallo tipo B se reparan y se vuelven a colocar en su emplazamiento original, y los módulos C o bien se reagrupan en ramas en serie, o bien se sustituyen por módulos nuevos de mayor potencia, que también estarán conectados en serie en ramas (1).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2018/070362.
Solicitante: CALO LÓPEZ, Antonio.
Nacionalidad solicitante: España.
Inventor/es: RODRIGUEZ SAN-SEGUNDO,HUGO-JOSE, CALO LÓPEZ,Antonio, DE VICENTE SUSO,Cristina.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- H02S50/00 ELECTRICIDAD. › H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA. › H02S GENERACIÓN DE ENERGÍA ELÉCTRICA MEDIANTE LA CONVERSIÓN DE LA RADIACIÓN INFRARROJA, LUZ VISIBLE O LUZ ULTRAVIOLETA, p. ej. UTILIZANDO MÓDULOS FOTOVOLTAICOS [FV] (obtención de energía eléctrica a partir de fuentes radiactivas G21H 1/12; dispositivos semiconductores inorgánicos sensibles a la luz H01L 31/00; dispositivos termoeléctricos H01L 35/00; dispositivos piroeléctricos H01L 37/00; dispositivos semiconductores orgánicos sensibles a la luz H01L 51/42). › Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos.
- H02S50/10 H02S […] › H02S 50/00 Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos. › Ensayos de dispositivos FV, p. ej. de módulos FV o células FV individuales (ensayo de dispositivos semiconductores durante su fabricación H01L 21/66).
- H02S50/15 H02S 50/00 […] › utilizando medios ópticos, p. ej.mediante electroluminiscencia.
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