Microscopio confocal con correlación de apertura.

Microscopio confocal que comprende

- un dispositivo de iluminación para iluminar una muestra;



- una unidad de disco rotativo que comprende una máscara de apertura rotativa con una primera sección ópticamente abierta y una segunda sección estructurada para codificar la iluminación;

- una unidad de toma de imágenes para captar una primera imagen (02), que está asociada a la primera sección, y una segunda imagen (03), que está asociada a la segunda sección, a través de la máscara de apertura o una máscara descodificadora;

- una platina portaobjetos verticalmente desplazable y/o un accionamiento de foco verticalmente desplazable con un medio de captación de posición para captar una posición vertical (z1... z7) de la platina portaobjetos y/o del accionamiento de foco; - una unidad de procesamiento de imágenes para generar una imagen confocal (05) por contabilización de las primeras y segundas imágenes (02, 03) asociadas a las secciones,

caracterizado por que la unidad de toma de imágenes está preparada para

- tomar primeras y segundas imágenes en posiciones verticales diferentes;

- almacenar transitoriamente las primeras y las segundas imágenes (02, 03) con su respectiva posición vertical correspondiente (z1 ... z7); y

- interpolar dos primeras imágenes (02) o dos segundas imágenes (03) para obtener una imagen intermedia (06 o 08) y, teniendo en cuenta la posición vertical (z1 ... z7), generar con la segunda imagen (03) o la primera imagen (02) una imagen confocal (05) de una muestra colocada sobre la platina portaobjetos;

- establecer la topografía de la muestra a partir de más de dos imágenes confocales en diferentes posiciones de foco.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2015/055800.

Solicitante: Carl Zeiss Microscopy GmbH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena ALEMANIA.

Inventor/es: LANGHOLZ,NILS, DRESCHER,VIKTOR, LIPPERT,HELMUT, SCHWERDTFEGER,WOLFGANG.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B9/04 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Microscopios de medida.
  • G02B21/00 G […] › G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06;   técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q).
  • G02B21/36 G02B […] › G02B 21/00 Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06;   técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q). › dispuestos para la fotografía o la proyección (G02B 21/18 tiene prioridad).

PDF original: ES-2642675_T3.pdf

 

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