Aparato de tratamiento de portaobjetos.

Un aparato incluyendo una base (21) incluyendo una cavidad (24) dispuesta en la base,

un calentador (30) dispuesto inmediatamente adyacente a una superficie de la cavidad (24), un sensor de temperatura (58b) montado en la base y un sistema de control (50) conectado eléctricamente al calentador (30) y al sensor de temperatura (58b), caracterizado porque el aparato está destinado a tratar portaobjetos en un rack de portaobjetos e incluye además un depósito (25) que puede soportarse de forma extraíble en la cavidad con una superficie de depósito inmediatamente adyacente al calentador, estando adaptado el depósito (25) para recibir un líquido (29) y el rack de portaobjetos (27) con los portaobjetos (28) dispuestos en el líquido (29), siendo activable el sensor de temperatura (58b) para proporcionar una señal de realimentación que representa una temperatura del líquido (29) en el depósito (25), y porque el sistema de control incluye una entrada/salida de usuario (38) operable para seleccionar un modo operativo para calentar el líquido, un filtro de constante de tiempo más larga sensible a muestras de temperatura del líquido y que produce un primer valor medio de temperatura, y un filtro de constante de tiempo más corta sensible a muestras de temperatura del líquido y que produce un segundo valor medio de temperatura, determinando el sistema de control (50) una temperatura del líquido que es aproximadamente igual a la temperatura de ebullición del líquido en respuesta a que una diferencia entre el primer valor medio de temperatura y el segundo valor medio de temperatura es sustancialmente igual a un valor predeterminado.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2005/043105.

Solicitante: LAB VISION CORPORATION.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 47790 WESTINGHOUSE DRIVE FREMONT, CA 94539 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: TSEUNG,KEN,K, RHETT,NORMAN,K, TAKAYAMA,GLENN K, WONG,WAI BUN, BURD,SAMUEL, HARTER,GEORGE A, MORRISON,DOUGLAS.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N1/31 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › Aparatos a este efecto.

PDF original: ES-2658099_T3.pdf

 

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