Método para indicar un punto en un espacio de medición.
Método para especificar un punto deseado (8) que se debe señalarse en un espacio de medición (3),
estando el punto en un objeto, y para medir la posición real del punto (9) así señalado, comprendiendo el método las etapas de:
calibrar un sistema de medición (1) a un espacio de medición tridimensional (3),
calibrar un puntero (2) al mismo espacio de medición (3),
apuntar el puntero (2) a dicho punto deseado (8) de dicho objeto, utilizando las coordenadas nominales de dicho punto deseado (8),
en el que dichas coordenadas nominales se toman de un modelo (6) de dicho objeto, y se lleva a cabo una transformación coordenadas de las coordenadas de dicho modelo en dicho espacio de medición, y
se lleva a cabo una medición de la posición real del punto (9) así señalado, utilizando el sistema de medición (1).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FI2002/000318.
Solicitante: Mapvision OY.
Nacionalidad solicitante: Finlandia.
Dirección: Tietäjäntie 10 02130 Espoo FINLANDIA.
Inventor/es: LEIKAS,ESA.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00).
- G01B21/00 G01B […] › Disposiciones de medida o sus detalles en caso de no adaptarse a los tipos particulares de medios de medida de los otros grupos de esta subclase.
PDF original: ES-2588852_T3.pdf
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