Procedimiento y dispositivo de formación de imagen microscópica interferencial de un objeto a cadencia elevada.
Procedimiento de formación de imagen microscópica interferencial de un objeto (9) en el que:
- se envía un haz (2) procedente de una fuente de luz (1) de pequeña longitud de coherencia en cada uno delos brazos de un microscopio interferencial de dos ondas, incluyendo uno de los brazos (7) un objeto (9) que se va aanalizar e incluyendo el otro brazo (10) un espejo de referencia (12),
- se introduce una modulación sinusoidal de frecuencia f, que tiene una amplitud Ψ y una fase desincronización θ, de la diferencia de fase óptica entre los dos brazos (6, 7) del interferómetro, resultando dichamodulación de la oscilación mecánica de un conjunto de elementos (16) del interferómetro,
- se integra la señal de interferencia (S) en el transcurso de dicha modulación de la diferencia de fase pormedio de un detector multicanal (15) que opera a una frecuencia f' tal que f' ≥ n.f, siendo n entero y mayor o igualque 2, realizándose la integración de la señal de interferencia (S) durante fracciones 1/n de período de lamodulación, y
- se registran las señales de interferencia integradas durante cada fracción de período 1/n,
- se procesan digitalmente dichas señales registradas con el fin de calcular una imagen tomográfica de unsegmento de dicho objeto, presentando dicho segmento un espesor del orden de la mitad de la longitud decoherencia de dicho haz de luz.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FR2001/003589.
Solicitante: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE.
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: 3, RUE MICHEL-ANGE 75794 PARIS CEDEX 16 FRANCIA.
Inventor/es: BOCCARA, CLAUDE, DUBOIS, ARNAUD.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B9/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Interferómetros.
- G01B9/04 G01B 9/00 […] › Microscopios de medida.
- G02B21/00 G […] › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06; técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q).
PDF original: ES-2393078_T3.pdf
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