SISTEMA DE INSPECCIÓN POR RAYOS X.

Esta invención se refiere a un sistema de inspección por rayos x y a métodos relacionados de inspeccionar artículos utilizando rayos x. Existe una continua necesidad de inspeccionar artículos, bien sea la inspección de equipajes en un aeropuerto u otra situación relacionada con el transporte, o bien a la salida de un proceso de producción. Por ejemplo, es común en la industria de la alimentación inspeccionar el contenido real del artículo para determinar que el contenido en alimento es el deseado y no contiene ningún cuerpo extraño como piedras, fragmentos de hueso, metal de las máquinas utilizadas en la producción de alimentos, o similares. Un aparato de inspección por rayos x típico comprende un transportador dispuesto para transportar los objetos a inspeccionar a través del aparato. Dentro del aparato hay una fuente de rayos x con un colimador asociado a la misma dispuesto para producir una zona de irradiación estrecha que se extiende a lo ancho del transportador. Debajo del transportador se dispone un detector capaz de detectar los rayos x que han pasado a través de un objeto que pasa sobre el transportador a través de la zona de irradiación. El detector generalmente comprende una matriz lineal de fotodiodos que se extienden a lo ancho del transportador, junto a la zona de irradiación. Los fotodiodos están generalmente dotados de una serie de módulos, cada uno de los cuales contiene una pluralidad de fotodiodos. Hay una tira fosforescente montada encima de los fotodiodos dentro de un módulo, y los rayos x que inciden en la tira fosforescente provocan la emisión de luz. La intensidad de la luz emitida por la tira fosforescente es proporcional a la cantidad de rayos x que inciden en ella, y la luz emitida es detectada por los fotodiodos. Por tanto, la salida de los fotodiodos puede ser utilizada para dar una indicación acerca de la cantidad de rayos x que están alcanzando la tira fosforescente a través de la zona de irradiación. La cantidad de rayos x que alcanza la cinta fosforescente será dependiente de la naturaleza del objeto que está pasando a través de la zona de irradiación; materiales más densos como el hueso, metal, piedra y similar absorberán más rayos x que materiales como la carne u otros alimentos. De modo similar, la ausencia de material, por ejemplo debido a un hueco, absorberá menos rayos x que la carne u otros alimentos. Por tanto, la cantidad de rayos x que alcanzan la tira fosforescente se puede utilizar para determinar si hay materia extraña en el producto, o de hecho también si hay ausencia de materia. La salida de los fotodiodos normalmente se convierte a una señal de vídeo y/o se procesa para determinar si el objeto que está pasando por la zona de irradiación cumple unos criterios predeterminados. En general, el detector (por ejemplo, los fotodiodos) se mantiene en una orientación fija y el objeto/producto a escanear se desplaza pasando junto al detector por medio de un transportador. Algunas aplicaciones que permiten el uso de tal sistema de inspección por rayos x varían la velocidad del transportador. Estas aplicaciones incluyen la monitorización de líneas de envasado de fármacos o alimentos para asegurar que el envase se llena correctamente con el fármaco/alimento; la monitorización de fluidos o sólidos en una tubería (por ejemplo, sopa o carne picada respectivamente); y otras aplicaciones similares. La circuitería de procesamiento dispuesta para procesar la salida del detector generalmente está calibrada a la velocidad a la que el objeto a escanear pasa por el detector. Por tanto, si se altera la velocidad del transportador, la velocidad a la que el objeto pasa por el detector se modifica, y la calibración de la circuitería de procesamiento se vuelve incorrecta. Muchos sistemas de inspección por rayos x funcionan para rechazar automáticamente los objetos que no cumplen unos criterios predeterminados. Por tanto, si la calibración no es imprecisa, algunos objetos pueden ser rechazados innecesariamente, o incluso peor, algunos objetos que deberían ser rechazados podrían no serlo. Por tanto, respectivamente habría objetos desperdiciados o bien objetos de calidad inferior que pasarían el filtro. El documento EP 0 198 276 describe un sistema de inspección por rayos x en el que la velocidad de escaneado del detector depende de la velocidad del transportador. El documento US 2004/0251415 describe un sistema que puede medir la velocidad variable de un objetivo y medir la radiación que pasa a través del objetivo para generar una imagen libre de distorsión de los contenidos del objetivo. De acuerdo con un primer aspecto de la invención, se proporciona un sistema de inspección por rayos x dispuesto para inspeccionar al menos un objeto y que comprende: una fuente de radiación; un detector, que en uso es capaz de detectar la radiación que pasa a través de una zona de irradiación y de generar una salida periódica de datos del mismo; donde la detección está dispuesta de tal modo que la radiación se detecta cuando se produce un período de 2   acumulación; circuitería de procesado dispuesta para procesar la salida generada por el detector; un medio de determinación de velocidad dispuesto para, durante el uso, determinar y enviar a la circuitería de procesado la velocidad a la que un objeto pasa por el detector, donde la circuitería de procesado está dispuesta para modificar el período de la salida del detector de acuerdo con la salida del medio de determinación de velocidad, caracterizado porque el período de la salida del detector comprende el período de acumulación y un período de reinicio y el período de acumulación se mantiene en un período sustancialmente constante. De acuerdo con un segundo aspecto de la invención, se proporciona un método para monitorizar un producto que comprende: medir la velocidad a la que el producto pasa a través de una zona de irradiación en la que inciden los rayos x generados por una fuente de rayos x; detectar la cantidad de rayos x que pasan a través del producto utilizando un detector adyacente a la zona de irradiación y que detecta una salida de radiación periódica cuando se produce un período de acumulación; donde el método comprende ajustar el período de la salida del detector de acuerdo con la velocidad a la que el objeto pasa a través de la zona de irradiación, caracterizado porque el período de la salida comprende un período de acumulación y un período de reinicio y el período de acumulación se mantiene en un período sustancialmente constante. De acuerdo con un tercer aspecto de la invención, se proporciona un medio legible por una máquina que contiene instrucciones que, cuando son leídas por una circuitería de procesamiento, provocan que dicha circuitería de procesamiento lleve a cabo el método del segundo aspecto de la invención, o cuando son leídas por una circuitería de procesamiento en un sistema de inspección por rayos x provocan que el sistema funcione como un sistema de inspección por rayos x de acuerdo con el primer aspecto de la invención. El medio legible por ordenador de cualquiera de los aspectos anteriores de la invención puede ser cualquiera de los siguientes: un disco flexible; un CD ROM, un DVD (incluyendo +R/+RW, -R/-RW, RAM); un disco duro, una memoria (incluyendo lápices de memoria y similares); una cinta: una señal transmitida (incluyendo una descarga de Internet, una transferencia ftp y similares); un cable; o similares. A continuación sigue sólo a modo de ejemplo una descripción detallada de la presente invención haciendo referencia a las figuras adjuntas, en las que: La Figura 1 muestra una disposición de fotodiodos dentro de un sistema de inspección por rayos x; La Figura 2 muestra una disposición típica de los componentes de un sistema de inspección por rayos x; La Figura 3 muestra una vista en 3 dimensiones de la disposición de una matriz de fotodiodos La Figura 4 muestra un diagrama temporal de la circuitería utilizada para accionar la matriz de fotodetectores mostrada en las figuras anteriores. Se utiliza la Figura 1 para describir una disposición de un sistema de inspección por rayos x de la técnica anterior que típicamente comprende una matriz de fotodiodos hecha de diodos discretos dispuestos según una única fila. Una matriz de fotodiodos típicamente comprende 64 diodos y en la Figura 1 se muestran cuatro de los diodos 10-16 de la matriz 8. Un experto en la materia apreciará fácilmente que la matriz de fotodiodos puede comprender cualquier número de fotodiodos, donde el número utilizado será determinado por la aplicación. La Figura 2 muestra una disposición general de un sistema 198 de inspección por rayos x. Esta Figura pretende poner las realizaciones de la invención en su contexto, aunque también puede ser aplicable a sistemas de la técnica anterior. El sistema está pensado para... [Seguir leyendo]

1. Un sistema (198) de inspección por rayos x dispuesto para inspeccionar al menos un objeto (212) y que comprende: una fuente de radiación (200); un detector (216), que en uso es capaz de detectar la radiación que pasa a través de una zona (214) de irradiación y de generar una salida periódica de datos del mismo; donde la detección está dispuesta de modo que la radiación se detecta cuando pasa un período de acumulación; circuitería de procesado dispuesta para procesar la salida generada por el detector (216); un medio de determinación de velocidad dispuesto, en uso para determinar y enviar al circuito de procesado la velocidad a la que un objeto (212) pasa por el detector; donde la circuitería de procesado está dispuesta para variar el período (T) de la salida del detector (216) de acuerdo con la salida del medio de determinación de velocidad, caracterizado porque el período (T) de la salida del detector (216) comprende el período (C) de acumulación y un período (R) de reinicio y el período (C) de acumulación se mantiene como un período sustancialmente constante. 2. Un sistema (198) de acuerdo con la reivindicación 1 donde la circuitería de procesado está dispuesta para variar el período (T) de la salida del detector (216) controlando la duración de un período de reinicio (R) aplicado al detector (216). 3. Un sistema (198) de acuerdo con la reivindicación 1 ó 2, donde la circuitería de procesado está dispuesta para medir la salida del detector (216) en una región de extremo del período (C) de acumulación. 4. Un sistema (198) de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones precedentes, donde el detector (216) comprende una pluralidad de fotodiodos (10, 12, 14, 16). 5. Un método para monitorizar un producto que comprende: medir la velocidad a la que el producto (212) pasa a través de una zona (214) de irradiación en la que inciden los rayos x generados por una fuente de rayos x; detectar la cantidad de rayos x que pasan a través del producto (212) utilizando un detector (216) junto a la zona de irradiación y detectar una radiación de salida periódica cuando se produce el período (C) de acumulación; donde el método comprende ajustar el período (T) de la salida del detector (216) de acuerdo con la velocidad a la que el objeto (212) pasa a través de la zona de irradiación, caracterizado porque el período de la salida (T) del detector (216) comprende un período (C) de acumulación y un período (R) de reinicio y el período (C) de acumulación se mantiene como un período sustancialmente constante. 6. Un método de acuerdo con la reivindicación 5 que controla la duración del período (R) de reinicio aplicado al detector para ajustar el período (T) de la salida del detector (216). 7. Un método de acuerdo con la reivindicación 5 o reivindicación 6 que lee la salida del detector (216) en una región de extremo del período de acumulación (C). 8. Un método de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones 5 a 7, que establece la duración del período (T) de la salida del detector (216) de acuerdo con la velocidad máxima a la que el objeto (212) pasará a través de la zona de irradiación (214). 9. Un medio legible por ordenador que contiene instrucciones que, cuando son leídas por una circuitería de procesado, provocan que una circuitería de procesamiento lleve a cabo el método de cualquiera de las reivindicaciones 5 a 8 o cuando son leídas por una circuitería de procesado en un sistema de inspección por rayos x provocan que el sistema funcione como un sistema de inspección por rayos x de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 4. 7   8   9     11