DISPOSITIVO OPTICO DE MEDICION DE LA POSICION.
Un dispositivo óptico de medición de la posición con un medio de medición (1.
2; 61.2; 71.2) y una unidad de exploración (2; 62; 72) móvil con respecto al mismo al menos en un sentido de medición (x), donde el dispositivo de medición de la posición comprende una fuente de luz (2.1; 62.1; 72.1), una graduación de emisión opcional, una graduación de proyección (24; 44; 54), una graduación de detección, una graduación de Vernier opcional así como varios elementos de detector optoelectrónicos y la luz de la fuente de luz (2.1; 62.1; 72.1) proyecta interactuando con la graduación de proyección (24; 44; 54) un patrón de franjas sobre la graduación de detección, de tal forma que se pueden detectar señales de salida dependientes del desplazamiento mediante los elementos de detector, donde la graduación de proyección (24; 44; 54) está configurada de tal forma que además de los órdenes de difracción pares y el orden de difracción 0 por lo demás se pueden suprimir los órdenes de difracción ± 3 y, en un caso dado, órdenes de difracción impares superiores, por lo que esencialmente solamente contribuyen los órdenes de difracción ± 1 a la generación de las señales de salida y la graduación de proyección (24; 44; 54) se compone de estructuras de amplitudes periódicas dispuestas de forma alterna en el sentido de la medición (x) que desvían o suprimen la luz que atraviesa o que se refleja y estructuras de fases que tienen un efecto de desplazamiento de fase sobre la luz que atraviesa o que se refleja.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: POSTFACH 12 60,83292 TRAUNREUT.
Inventor/es: HUBER, WALTER, HOLZAPFEL, WOLFGANG.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 25 de Julio de 2000.
Fecha Concesión Europea: 18 de Junio de 2008.
Clasificación PCT:
- G01B11/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de la longitud, la anchura o el espesor (G01B 11/08 tiene prioridad).
- G01D5/38 G01 […] › G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01D 5/00 Medios mecánicos para la transferencia de la magnitud de salida de un elemento sensor; Medios para la conversión de la magnitud de salida de un elemento sensor en otra variable, en los que la forma o naturaleza del elemento sensor no determinan los medios de conversión; Transductores no especialmente adaptados a una variable específica (G01D 3/00 tiene prioridad; especialmente adaptados para aparatos que dan resultados distintos al valor instantáneo de una variable G01D 1/00). › mediante rejillas de difracción.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.
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