Dispositivo de medición de posición.

Dispositivo de medición de posición para determinar la posición de un primer objeto con respecto a un segundo objeto,

que se puede mover en relación con éste, a lo largo de al menos una dirección de medición (x) con

- una medida materializada (10), que se extiende a lo largo de la dirección de medición (x), que está conectada con el primer objeto y que comprende al menos una rejilla de escala (13) periódica que está configurada como rejilla de transmisión y presenta una primera periodicidad (d1), y

- una unidad de exploración (20), que está conectada con el segundo objeto, con

- al menos una fuente de luz (21),

- al menos una rejilla de exploración (24; 124; 224) periódica que presenta una segunda periodicidad (d2), y

- una disposición de detector (26) que consiste en áreas (26.1 - 26.n) de detector sensibles a la radiación dispuestas periódicamente con una tercera periodicidad (d3) a lo largo de la dirección de medición (x) en un plano de detección, y

- en donde los haces de rayos emitidos por la fuente de luz (21) primero inciden en la rejilla de escala (13), después recorren la rejilla de exploración (24; 124; 224) y la interacción de los haces de rayos con la rejilla de escala (13) y la rejilla de exploración (24; 124; 224) tiene como resultado un patrón de franjas periódico con la tercera periodicidad (d3) en el plano de detección, y a partir de la exploración del mismo mediante la disposición de detector (26) se pueden generar múltiples señales incrementales desfasadas entre sí, y

- en donde la rejilla de exploración (24; 124; 224) está dispuesta entre al menos un primer y un segundo elementos de soporte (25.1, 25.2; 125.1, 125.2; 225.1, 225.2) transparentes en forma de placa, y el espacio entre la rejilla de exploración (24; 124; 224) y las áreas (26.1 - 26.n) de detector está rellenado por completo con un material que presenta un índice de refracción n > 1,3, y

- en donde la distancia (μ1) entre la rejilla de escala (13) y la superficie límite (G1) adyacente del primer elemento de soporte (25.1) se elige dentro del intervalo entre 10 μm y 200 μm.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E18151547.

Solicitante: DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: Dr.-Johannes-Heidenhain-Str. 5 83301 Traunreut ALEMANIA.

Inventor/es: HOLZAPFEL, WOLFGANG, LINGK,CHRISTOPH, TRAUTNER,JOHANNES.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01D5/347 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR.G01D 5/00 Medios mecánicos para la transferencia de la magnitud de salida de un elemento sensor; Medios para la conversión de la magnitud de salida de un elemento sensor en otra variable, en los que la forma o naturaleza del elemento sensor no determinan los medios de conversión; Transductores no especialmente adaptados a una variable específica (G01D 3/00 tiene prioridad; especialmente adaptados para aparatos que dan resultados distintos al valor instantáneo de una variable G01D 1/00). › que utilizan escalas de codificación de desplazamiento.
  • G01D5/38 G01D 5/00 […] › mediante rejillas de difracción.

PDF original: ES-2755835_T3.pdf

 

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