METODO PARA REALIZAR ANALISIS DE DIFRACCION DE POLVO.

Procedimiento para realizar sucesivamente un análisis de difracción de polvo de al menos dos muestras de polvo que están contenidas en medios portadores de muestra,

en el que se hace uso de un aparato (1, 20) que comprende: - una fuente (2) de radiación que está adaptada para dirigir un haz de radiación (3) hasta una muestra de polvo, - un detector (8) para detectar radiación de difracción de una muestra de polvo, - un medio actuador (5, 21) para efectuar un movimiento de una muestra de polvo irradiada, durante la irradiación y la detección, con respecto al haz de radiación, en el que dicho procedimiento comprende las etapas de: irradiar una muestra de polvo y detectar la radiación de difracción de la muestra de polvo, disponiendo otra muestra de polvo de tal modo que dicho haz de radiación sea dirigido hasta la otra muestra de polvo citada, e irradiar la citada otra muestra de polvo y detectar la radiación de difracción de dicha otra muestra, en el que durante la irradiación y la detección de cada muestra, los medios actuadores efectúan un movimiento de la muestra irradiada con respecto al haz de radiación a efectos de mejorar la estadística de partícula, en el que los medios portadores de muestra comprenden un portador (6) común para múltiples muestras que mantiene dichas al menos dos muestras (7) de polvo, que se caracteriza porque, los medios actuadores (5, 21) están conectados a dicho portador (6) común de múltiples muestras, y porque dichos medios actuadores efectúan, durante la irradiación y la detección de una muestra contenida en el citado portador común de múltiples muestras, un movimiento de dicho portador común de múltiples muestras con respecto al haz de radiación.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: SAP AG.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: DIETMAR-HOPP-ALLEE 16,69190 WALLDORF.

Inventor/es: WESTENDORF, FRANK, PEDERSEN, BENT, FOSS.

Fecha de Publicación: 1 de Marzo de 2007.

Fecha Solicitud PCT: 30 de Abril de 2003.

Clasificación Internacional de Patentes:

G06F17/60
G06F9/46 FISICA. › G06 CALCULO; CONTEO. › G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › G06F 9/00 Disposiciones para el control por programa, p. ej. unidades de control (control por programa para dispositivos periféricos G06F 13/10). › Disposiciones para la multiprogramación.

Clasificación PCT:

G01N23/20 G […] › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › utilizando la difracción de la radiación por los materiales, p. ej. para investigar la estructura cristalina; utilizando la dispersión de la radiación por los materiales, p. ej. para la investigación de materiales no cristalinos; utilizando la reflexión de la radiación por los materiales.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.

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