PRUEBA AUTOMATICA INTEGRADA JERARQUICA.

Un aparato para proporcionar autocomprobación integrada jerárquica para un sistema con chip,

comprendiendo dicho aparato: un controlador BIST central; una pluralidad de circuitos BIST locales comprendiendo cada uno al menos un macro y al menos un generador de imagen de prueba para generar imágenes de prueba predefinidas; y al menos un medio de comunicación para realizar operaciones de control y transferencia entre dicho controlador BIST central y dicha pluralidad de circuitos BIST locales, realizando dicho controlador BIST central la prueba de los circuitos BIST locales en una forma jerárquica siguiendo un algoritmo de prueba jerárquico.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: NEW ORCHARD ROAD,ARMONK, NY 10504.

Inventor/es: CHEN, HOWARD, HAO, HSU, LOUIS, LU-CHEN, WANG, LI-KONG.

Fecha de Publicación: 1 de Diciembre de 2006.

Fecha Solicitud PCT: 15 de Mayo de 2002.

Clasificación Internacional de Patentes:

G06F11/22 FISICA. › G06 CALCULO; CONTEO. › G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › G06F 11/00 Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización (detección, corrección o monitorización de errores en el almacenamiento de información basado en el movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B 20/18; monitorización, es decir, supervisión del progreso del registro o reproducción G11B 27/36; en memorias estáticas G11C 29/00). › Detección o localización de hardware defectuoso efectuando pruebas durante las operaciones de espera (standby) o durante los tiempos muertos, p. ej. pruebas de arranque.

Clasificación PCT:

G01R31/3187 G […] › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayos integrados.
G06F11/27 G06F 11/00 […] › Pruebas incorporadas.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Mozambique, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, República Unida de Tanzania, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Zambia, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Guinea Ecuatorial, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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