METODO PARA MEDIR ESTRUCTURAS EN UNA HUELLA DACTILAR CON UN SENSOR LINEAL.

Método para medir las estructuras en una huella dactilar o similar,

que comprende medir unas características seleccionadas de la superficie de la huella dactilar usando una matriz de sensores que comprende una pluralidad de sensores (1), estando colocados en contacto con, o cerca de, una parte de la superficie, que comprende medir dichas características en al menos una línea de puntos de medición a lo largo de una parte alargada de la superficie en intervalos de tiempo seleccionados, siendo la matriz de sensores una matriz fundamentalmente unidimensional, y mover la superficie con relación a la matriz de sensores en una dirección perpendicular a la matriz de sensores, de manera que las mediciones se realicen en diferentes partes de la superficie proporcionando así un conjunto de líneas de puntos de medición, en el que al menos se proporciona una medición de cada parte de la superficie en la dirección del movimiento, caracterizado por compensar el movimiento de dicho dedo mediante el ajuste, en un intervalo de tiempo dado, del número de líneas de puntos de medición para proporcionar un nuevo conjunto de líneas de puntos de medición, y combinar dicho nuevo conjunto de líneas de puntos de medición que son para proporcionar una representación bidimensional de dichas características de la superficie.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: SINTEF.

Nacionalidad solicitante: Noruega.

Dirección: STRINDVEIEN 2,7034 TRONDHEIM.

Inventor/es: TSCHUDI, JON.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 1 de Febrero de 2006.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G06K9/00 FISICA.G06 CALCULO; CONTEO.G06K RECONOCIMIENTO DE DATOS; PRESENTACION DE DATOS; SOPORTES DE REGISTROS; MANIPULACION DE SOPORTES DE REGISTROS (impresión per se B41J). › Métodos o disposiciones para la lectura o el reconocimiento de caracteres impresos o escritos o el reconocimiento de formas, p. ej. de huellas dactilares (métodos y disposiciones para la lectura de grafos o para la conversión de patrones de parámetros mecánicos, p.e. la fuerza o la presencia, en señales eléctricas G06K 11/00; reconocimiento de la voz G10L 15/00).
METODO PARA MEDIR ESTRUCTURAS EN UNA HUELLA DACTILAR CON UN SENSOR LINEAL.

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