DISPOSITIVO PARA LA MEDICION DEL PERFIL DE ESPESOR DE UN PRODUCTO METALICO EN FORMA DE BANDA O DE PLACA QUE VAN DE PASO.
LA INVENCION SE REFIERE A UN DISPOSITIVO PARA LA MEDICION DEL PERFIL E ESPESOR DE UN PRODUCTO METALICO EN FORMA DE UNA BANDA O DE UNA PACA QUE VAN DE PASO,
DEL TIPO QUE COMPRENDE UNA FUENTE DE RAYOS X QUE EMITE EN DIRECCION DE DICHO PRODUCTO, UNA UNIDAD (21) DE DETECCION DE LOS RAYOS X SITUADOS DEL OTRO LADO DEL PRODUCTO RESPECTO DE DICHA FUENTE, MEDIOS (22) DE TRATAMIENTO DE LAS SEÑALES EMITIDAS POR LA UNIDAD DE DETECCION QUE PERMITEN MEDIR EL PERFIL DE ESPESOR DE DICHO PRODUCTO, Y MEDIOS (23, 24) DE ENFRIAMIENTO DE LA UNIDAD DE DETECCION Y MEDIOS DE TRATAMIENTO DE SUS SEÑALES, CARACTERIZADO EN QUE LA UNIDAD DE DETECCION Y LOS MEDIOS DE TRATAMIENTO DE SUS SEÑALES ESTAN DISPUESTOS SOBRE UNA PLACA DE SOPORTE (18) DOTADA CON UNA PLACA DE CIERRE (19), COMPRENDIENDO LA PLACA DE CIERRE CONEXIONES ELECTRICAS (27) Y FLUIDAS (25, 26) NECESARIAS PARA EL FUNCIONAMIENTO DE LA UNIDAD DE DETECCION Y MEDIOS DE TRATAMIENTO DE SUS SEÑALES, EN QUE LA PLACA DE SOPORTE ESTA INSERTADA EN UNA CAJA, UNA DE CUYAS CARAS DE TRATAMIENTO PRESENTA UNA CAVIDAD, MEDIOS (20) PARA LA FIJACION DE LA PLACA DE CIERRE Y MEDIOS PARA HACER ESTANCA LA CONEXION ENTRE LA CAJA Y LA PLACA DE CIERRE, PRESENTANDO LA CARA DE LA CAJA SITUADA ENFRENTE DEL PRODUCTO, ENFRENTE DE LA UNIDAD DE DETECCION, UNA VENTANA DE UN MATERIAL PERMEABLE A LOS RAYOS X, Y EN QUE LA CAJA ESTA INSTALADA EN UN BASTIDOR QUE LO MANTIENEN CERCA DEL PRODUCTO.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: SOLLAC S.A..
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: IMMEUBLE ×LA PACIFIC×, LA DEFENSE 7, 11/13, COURS VALMY,92800 PUTEAUX.
Inventor/es: CAMPAS, JEAN-JACQUES, TERREAUX, STEPHANE, VANHEE, PATRICK.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 17 de Junio de 1998.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B15/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 15/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de radiación de ondas o partículas (G01B 9/00, G01B 11/00 tienen prioridad). › para la medida del espesor.
- G01N23/16 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › siendo el material una hoja móvil o una película.
- G12B17/00 G […] › G12 DETALLES O PARTES CONSTITUTIVAS DE INSTRUMENTOS. › G12B DETALLES DE CONSTRUCCIÓN O PARTES CONSTITUTIVAS DE INSTRUMENTOS O DETALLES O PARTES CONSTITUTIVAS COMPARABLES DE OTROS APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › Pantallas.
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