DISPOSITIVO ESPECTOMETRO FOTODIODO.
UN DISPOSITIVO ESPECTOMETRO FOTODIODO PARA DETERMINAR LA COMPOSICION ESPECTRAL DE UN RAYO POLIMATICO DE RADIACION,
COMPRENDE MEDIOS DE DIFRACCION (10) QUE GENERAN DESDE EL RAYO POLICROMATICO UN RAYO DIFRACTADO CON UNA PLURALIDAD DE REYOS DIFRACTADOS SEPATADOS ESPACIALMENTE DE DIFERENTES LONGITUDES DE ONDA (R1,R2,R3). UN DISPOSITIVO FOTODIODO (11) RECIBE EL RAYO DIFRACTADO POR LO QUE CADA FOTODIODO INTERCEPTA UNA PORCION ESPECTRAL DIFERENTE DEL RAYO. UNA PLACA TRANSPARENTE GIRATORIA (8) ESTA PROVISTA EN LA TRAYECTORIA DEL RAYO FRENTE A LOS MEDIOS (10) QUE, DEBIDO A LA REFRACCION DEL RAYO SOBRE LA PLACA DE ATAQUE Y SALIDA (8) PERMITE VARIAS LAS DIRECCION DEL RAYO AFECTANDO A LOS MEDIOS (10) Y ADEMAS, A LA DIRECCION DEL RAYO DIFRACTADO EN PEQUEÑOS ESCALONES QUE DEPENDEN DEL ANGULO DE ROTACION DE LA PLACA (8). POR EL DESPLAZAMIENTO ESCALONADO DEL RAYO DIFRACTADO A TRAVES DEL DISPOSITIVO (11); UNA MUESTRA MEJOR DEL RAYO DIFRACTADO Y ADEMAS, UNA RESOLUCION ESPECTRAL MEJORADA ES CONSEGUIDA. LA INVENCION PUEDE SER UTILIZADA EN LOS ANALISIS ESPECTROMETRICOS DE UNA MUESTRA CONTENIDA EN UNA CELDILLA (5), POR LO QUE LA CELDILLA MUESTRA ES IRRADIADA CON LUZ POLICROMATICA DESDE UNA FUNETE LUMINOSA (1).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: HEWLETT-PACKARD GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: HERRENBERGER STRASSE 130 POSTFACH 14 30, W-7030 BOBLINGEN.
Inventor/es: KRAICZEK, KARSTEN, HADBAWNIK, DETLEV.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 4 de Marzo de 1992.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01J3/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES. › G01J 3/00 Espectrometría; Espectrofotometría; Monocromadores; Medida del color. › Estudio del espectro (utilizando filtros de color G01J 3/51).
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