UNA DISPOSICION DE CUBETA PARA UN ANALIZADOR CENTRIFUGO.

1. Una disposición de cubeta para un analizador centrífugo, en el cual la disposición está formada de discos superior e inferior de material termoplástico flexible

, el disco inferior de material termoplástico flexible, el disco inferior está formado con una pluralidad de compartimientos espaciados circunferencialmente en torno a un primer cubo central y el disco superior está unido a la periferia exterior de dichos compartimientos, en la que dicho disco superior está formado con una parte central que inlcuye un segundo cubo central situado encima de dicho primer cubo central hasta la parte periférica exterior del disco superior, a fin de cerrar la parte periférica exterior del disco superior, a fin de cerrar la parte periférica interior de dichos compartimientos.
2. Una disposición de acuerdo con la reivindicación 1, en la que dicho segundo cubo central está formado con nervios de orientación en el mismo, para que encajen en canales correspondientes en el disco inferior de otra disposición primeramente mencionada, para retener a dichas disposiciones contra rotación relativa en la condición de alojadas.
3. Una disposición de acuerdo con la reivindicación 1, en la que dicha parte de alma intermedia está unida a dicha parte rayada de desgarramiento, para permitir que sea retirada por entero dicha parte central de dicho disco superior con un segundo cubo central y la parte de alma intermedia.
4. Una disposición de acuerdo con la reivindicación 2, en la que dicha parte de alma intermedia está unida a dicha parte periférica exterior de dicho disco superior con su segundo cubo central y la parte de alma intermedia.
5. Una disposición de cubeta para un analizador centrífugo.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: ELECTRO-NUCLEONICS, INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 368 PASSAIC AVENUE, FAIRFIELD, NUEVA JERSEY.

Fecha de Solicitud: 13 de Abril de 1984.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 4 de Marzo de 1985.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/09 (adaptadas para resistir a un medio hostil o a materiales corrosivos o abrasivos)
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