ALINEACION Y ESTABILIZACION AUTOMATICA DE ELEMENTOS ELECTRO-OPTICOS.

Aparato óptico (10) para utilizar en la auto- alineación de trayectorias ópticas de línea de mira de al menos un sensor

(20, 30) y un láser (43), comprendiendo dicho aparato: al menos una fuente de referencia (21, 23) para dar salida al menos a un rayo o haz de referencia que está alineado ópticamente con la línea de mira del al menos un sensor de láser; una fuente (41) de referencia de láser para dar salida a un rayo o haz de referencia de láser que está alineado ópticamente con la línea de mira del láser; un espejo (57) de alineación de láser para ajustar la alineación de la línea de mira del rayo de láser; un espejo (28) de alineación de sensor para ajustar la alineación del al menos un sensor; elementos ópticos (23) en combinación para acoplar la pluralidad de rayos de referencia a lo largo de una trayectoria óptica común; un aparato de junta o articulación universal (12, 13); un detector (11) dispuesto en el aparato de junta universal para detectar la pluralidad de rayos de referencia; un espejo (15) de estabilización fina dispuesto en el aparato de junta universal para ajustar la línea de mira de las trayectorias ópticas del al menos un sensor y el láser; y un ordenador o procesador (60) acoplado al detector, al espejo de alineación de láser, al espejo de alineación de sensor y al espejo de estabilización fina para tratar señales detectadas por el detector y dar salida a señales de control hacia respectivos espejos para alinear las trayectorias ópticas de la línea de mira del sensor y del láser.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: RATHEON COMPANY.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 2000 EAST EL SEGUNDO BOULEVARD, P.O. BOX 902,EL SEGUNDO, CA 90245.

Inventor/es: MESSINA, PETER, V.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 9 de Agosto de 1999.

Fecha Concesión Europea: 2 de Octubre de 2002.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION F — MECANICA; ILUMINACION; CALEFACCION;... > ARMAS > APARATOS DE MIRA; PUNTERIA (aspectos ópticos G02B) > Aparatos de puntería; Medios de colocación (dispositivos... > F41G3/32 (Dispositivos para ensayos o verificación)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > LOCALIZACION DE LA DIRECCION POR RADIO; RADIONAVEGACION;... > Localizadores de dirección para la determinación... > G01S3/786 (manteniéndose el estado deseado automáticamente)
  • SECCION G — FISICA > OPTICA > ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene... > Otros sistemas ópticos; Otros aparatos ópticos... > G02B27/64 (Sistemas para obtener imágenes que utilizan elementos ópticos para la estabilización lateral y angular de la imagen (sistemas de enfoque G02B 7/04; regulación del sistema óptico relativo a la imagen dentro de los aparatos fotográficos, los proyectores o los reproductores G03B 5/00))
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE DISTANCIAS, NIVELES O RUMBOS; TOPOGRAFIA;... > Navegación; Instrumentos de navegación no previstos... > G01C21/18 (Plataformas estabilizadas, p. ej. mediante giróscopo)

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Chipre, Oficina Europea de Patentes.

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