8 inventos, patentes y modelos de GÓMEZ SALINAS,Didac

  1. 1.-

    SENSOR DE TEMPERATURA DIFERENCIAL CON INMUNIDAD A INTERFERENCIAS TÉRMICAS

    (06/2014)

    Sensor de temperatura diferencial con inmunidad a interferencias térmicas. La presente invención describe un circuito electrónico orientado a ser integrado en un cristal semiconductor capaz de proporcionar una magnitud eléctrica a su salida dependiente de la diferencia de temperatura entre dos zonas de la superficie de dicho cristal semiconductor, y que presenta al mismo tiempo un gran rechazo a posibles interferencias térmicas provenientes de otras zonas del mismo cristal. La figura 1 muestra el símbolo del circuito electrónico. Éste tiene dos entradas de alimentación...

  2. 2.-

    SENSOR DE TEMPERATURA DIFERENCIAL CON INMUNIDAD A INTERFERENCIAS TÉRMICAS

    (05/2014)
    Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Clasificación: G01R29/08, G01K7/00, G01K1/20.

    La presente invención describe un circuito electrónico orientado a ser integrado en un cristal semiconductor capaz de proporcionar una magnitud eléctrica a su salida dependiente de la diferencia de temperatura entre dos zonas de la superficie de dicho cristal semiconductor, y que presenta al mismo tiempo un gran rechazo a posibles interferencias térmicas provenientes de otras zonas del mismo cristal. La figura 1 muestra el símbolo del circuito electrónico. Éste tiene dos entradas de alimentación y , y como salida tiene un nodo . Además, tiene diversos dispositivos internos, , y en la figura, las temperaturas de los cuales influirán de forma directa en el valor de la magnitud eléctrica del nodo de salida.

  3. 3.-

    CIRCUITO ELECTRÓNICO CON MAGNITUD ELÉCTRICA DE SALIDA DEPENDIENTE DE LA DIFERENCIA DE TENSIÓN DE DOS NODOS DE ENTRADA Y DE LA DIFERENCIA DE TEMPERATURA DE DOS DE SUS DISPOSITIVOS

    (11/2013)

    Circuito electrónico con magnitud eléctrica de salida dependiente de la diferencia de tensión de dos nodos de entrada y de la diferencia de temperatura de dos de sus dispositivos. La presente invención describe un circuito electrónico cuya magnitud eléctrica de salida depende de la diferencia de tensión de dos de los nodos de entrada del mismo así como de la diferencia de temperatura de dos de sus dispositivos internos. La figura 1 muestra el símbolo del circuito electrónico. Éste tiene como entradas eléctricas dos entradas en tensión y y dos entradas de alimentación y , y como salida tiene un nodo . Además, tiene...

  4. 4.-

    PROCEDIMIENTO PARA LA MEDICIÓN DE LA EFICIENCIA DE AMPLIFICADORES DE POTENCIA INTEGRADOS LINEALES CLASE A UTILIZANDO MEDICIONES DE TEMPERATURA EN CONTINUA

    (10/2013)

    Procedimiento para la medición de la eficiencia de amplificadores de potencia integrados lineales clase A utilizando mediciones de temperatura en continua. La presente invención describe un procedimiento para la medición de la eficiencia de amplificadores de potencia integrados lineales clase A utilizando mediciones de temperatura en continua. La Fig. 1 muestra un circuito integrado que contiene un amplificador lineal de potencia clase A . La figura también muestra el generador que suministra una tensión continua para alimentar al amplificador y el generador de señal que el amplificador amplifica y entrega a la carga . Mediciones de la componente continua de la temperatura en puntos seleccionados del circuito integrado,...

  5. 5.-

    CIRCUITO ELECTRÓNICO CON MAGNITUD ELÉCTRICA DE SALIDA DEPENDIENTE DE LA DIFERENCIA DE TENSIÓN DE DOS NODOS DE ENTRADA Y DE LA DIFERENCIA DE TEMPERATURA DE DOS DE SUS DISPOSITIVOS

    (08/2013)
    Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Clasificación: G01K15/00, G01K7/01.

    La presente invención describe un circuito electrónico cuya magnitud eléctrica de salida depende de la diferencia de tensión de dos de los nodos de entrada del mismo así como de la diferencia de temperatura de dos de sus dispositivos internos. La figura 1 muestra el símbolo del circuito electrónico. Éste tiene como entradas eléctricas dos entradas en tensión y y dos entradas de alimentación y , y como salida tiene un nodo . Además, tiene dos dispositivos internos y cuya diferencia de temperaturas influirá de forma directa en el valor de la magnitud eléctrica del nodo de salida. En el circuito de la presente invención la variación de la magnitud eléctrica de la salida depende de la diferencia de tensión de los dos nodos de entrada y así como de la diferencia de temperaturas de los dispositivos internos y.

  6. 6.-

    PROCEDIMIENTO PARA LA MEDICIÓN DE LA EFICIENCIA DE AMPLIFICADORES DE POTENCIA INTEGRADOS LINEALES CLASE A UTILIZANDO MEDICIONES DE TEMPERATURA EN CONTINUA

    (08/2013)
    Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Clasificación: G01R31/3163.

    La presente invención describe un procedimiento para la medición de la eficiencia de amplificadores de potencia integrados lineales clase A utilizando mediciones de temperatura en continua. La Fig. 1 muestra un circuito integrado que contiene un amplificador lineal de potencia clase A . La figura también muestra el generador que suministra una tensión continua para alimentar al amplificador y el generador de señal que el amplificador amplifica y entrega a la carga . Mediciones de la componente continua de la temperatura en puntos seleccionados del circuito integrado, en este caso el punto , permiten la medición de la eficiencia del amplificador sin necesidad de utilizar equipos de medición de señales analógicas alta frecuencia.

  7. 7.-

    PROCEDIMIENTO PARA LA ESTIMACIÓN DE CARACTERÍSTICAS ELÉCTRICAS DE UN CIRCUITO ANALÓGICO MEDIANTE LA MEDICIÓN EN CONTINUA DE TEMPERATURA

    (07/2013)

    Procedimiento para la estimación de características eléctricas de un circuito analógico mediante la medición en continua de temperatura. La presente invención describe un procedimiento para la estimación de características eléctricas de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición en continua de la temperatura. La fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos . Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, la figura muestra un amplificador. Este amplificador dispone de entradas...

  8. 8.-

    PROCEDIMIENTO PARA LA ESTIMACIÓN DE CARACTERÍSTICAS ELÉCTRICAS DE UN CIRCUITO ANALÓGICO MEDIANTE LA MEDICIÓN EN CONTINUA DE TEMPERATURA

    (06/2013)

    La presente invención describe un procedimiento para la estimación de características eléctricas de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición en continua de la temperatura. La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos . Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, la figura muestra un amplificador. Este amplificador dispone de entradas de señal y entradas de la tensión de alimentación . La polarización del circuito en continua aplicando una tensión a las entradas de alimentación , sin aplicar señal a las...