Entorno de ensayo susceptible de ser utilizado por varios usuarios para una pluralidad de objetos de ensayo.

Entorno de ensayo (10) para someter a ensayo objetos de ensayo (105),

presentando el entorno de ensayo (10): una primera unidad de realización del caso de ensayo (110A) y una segunda unidad de realización del caso de ensayo(110B),

un primer objeto de ensayo (105A) y un segundo objeto de ensayo (105B),

un mecanismo de conexión (170), el cual está realizado para acoplar opcionalmente la primera unidad de realización del caso de ensayo (110A) o la segunda unidad de realización del caso de ensayo (110B) con el primer objeto de ensayo (105A) y/o con el segundo objeto de ensayo (105B),

en donde el entorno de ensayo está configurado de modo que la primera unidad de realización del caso de ensayo puede ser acoplada con el primer objeto de ensayo o el segundo objeto de ensayo para llevar a cabo un caso de ensayo;

caracterizado por que el entorno de ensayo presenta, además:

una pluralidad de unidades de hardware de simulación (150) que son controladas por los objetos de ensayo en el marco de un caso de ensayo;

en donde opcionalmente cada una de la pluralidad de unidades de hardware de simulación (150) puede ser acoplada a través del mecanismo de conexión con un objeto de ensayo.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/DE2014/000169.

Solicitante: Airbus Defence and Space GmbH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: Willy-Messerschmitt-Strasse 1 85521 Ottobrunn ALEMANIA.

Inventor/es: SCHUMACHER, BERND, WAGER,PHILIPP.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R31/28 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
  • G01R31/319 G01R 31/00 […] › Hardware de pruebas, es decir, circuitos de tratamiento de señales de salida.
  • G06F11/273 G […] › G06 CALCULO; CONTEO.G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › G06F 11/00 Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización (detección, corrección o monitorización de errores en el almacenamiento de información basado en el movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B 20/18; monitorización, es decir, supervisión del progreso del registro o reproducción G11B 27/36; en memorias estáticas G11C 29/00). › Hardware de pruebas, es decir circuitos de procesamiento de señales de salida.
  • G06F11/30 G06F 11/00 […] › Vigilancia del funcionamiento.
  • G06F11/36 G06F 11/00 […] › Prevención de errores probando o depurando el software.

PDF original: ES-2742387_T3.pdf

 

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