Método y aparato para bloquear y escanear la frecuencia de salida de una cavidad láser.

Un sistema láser (1) que comprende una cavidad láser (2) y un aparato de bloqueo y escaneo para la cavidad láser (2),

comprendiendo el aparato de bloqueo y escaneo: una cavidad de referencia exterior (3) que tiene un sistema de accionamiento de cavidad de referencia (38, 47) para escanear una longitud de cavidad de referencia; y un circuito de bloqueo y escaneo (37) conectado eléctricamente a un espejo piezoaccionado doble (6a, 6b) de la cavidad láser (2), en el que el circuito de bloqueo y escaneo (37) comprende un generador de señales (25) para generar una señal de error (26) entre una salida de la cavidad láser (2) y una salida de la cavidad de referencia exterior (3),

caracterizado por que el generador de señales (25) está configurado para dividir la señal de error (26) en un primer (26b) y un segundo componente (26a), y el circuito de bloqueo y escaneo (37) comprende además: un primer circuito de procesamiento de señales (29b) para procesar el primer componente (26b) de la señal de error (26) para proporcionar una señal de retroalimentación (33) para un primer cristal piezoeléctrico (22) del espejo piezoaccionado doble (6a, 6b); y

un segundo circuito de procesamiento de señales (29a) para procesar el segundo componente (26a) de la señal de error (26) para proporcionar una señal de retroalimentación (36) para un segundo cristal piezoeléctrico (23a, 23b) del espejo piezoaccionado doble (6a, 6b).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/GB2013/051349.

Solicitante: M Squared Lasers Limited.

Nacionalidad solicitante: Reino Unido.

Dirección: 1 Kelvin Campus West of Scotland Science ParkGlasgowG20 0SP REINO UNIDO.

Inventor/es: MILLER,WILLIAM.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G02B26/00 SECCION G — FISICA.G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › Dispositivos o sistemas ópticos que utilizan elementos ópticos móviles o deformables para controlar la intensidad, el color, la fase, la polarización o la dirección de la luz, p. ej. conmutación, apertura de puerta, modulación (elementos móviles de dispositivos de iluminación para el control de la luz F21V; dispositivos o sistemas especialmente adaptados para medir las características de la luz G01J; dispositivos o sistemas cuyo funcionamiento óptico se modifica por el cambio de las propiedades ópticas del medio que constituyen estos dispositivos o sistemas G02F 1/00; control de la luz en general G05D 25/00; control de las fuentes de luz H01S 3/10, H05B 37/00 - H05B 43/00).
  • H01S3/08 SECCION H — ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01S DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN LA EMISION ESTIMULADA.H01S 3/00 Láser, es decir, dispositivos para la producción, amplificación, modulación, demodulación o el cambio de frecuencia utilizando la emisión estimulada de ondas infrarrojas, visibles o ultravioletas (láseres de semiconductor H01S 5/00). › Construcción o forma de resonadores ópticos o de sus componentes.
  • H01S3/081 H01S 3/00 […] › con más de dos reflectores.
  • H01S3/083 H01S 3/00 […] › Láseres en anillo.
  • H01S3/105 H01S 3/00 […] › por control de la posición relativa o de las propiedades reflectantes de los reflectores de la cavidad (H01S 3/13 tiene prioridad).
  • H01S3/106 H01S 3/00 […] › por control de un dispositivo situado en la cavidad (H01S 3/13 tiene prioridad).
  • H01S3/13 H01S 3/00 […] › Estabilización de parámetros de salida de láser, p. ej. frecuencia, amplitud.
  • H01S3/139 H01S 3/00 […] › por control de la posición relativa o de las propiedades reflectantes de los reflectores de la cavidad.

PDF original: ES-2798106_T3.pdf

 

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