Método y aparato para analizar un sistema complejo investigado.

Método para analizar un sistema (2) complejo investigado de un tipo de sistema específico,



comprendiendo dicho sistema (2) complejo una pluralidad de componentes de sistema,

comprendiendo el método las etapas de:

(a) proporcionar (S1) un modelo de datos orientado a objetos virtual de base que comprende componentes abstractos correspondientes a componentes de sistema del sistema (2) complejo investigado, en el que cada componente abstracto del modelo de datos orientado a objetos virtual de base comprende parámetros y atributos del componente de sistema respectivo del sistema (2) complejo investigado;

(b) mapear (S2) etiquetas de sensor de sensores desplegados en el sistema (2) complejo investigado y/o nombres de acontecimiento de acontecimientos recibidos a partir del sistema (2) complejo investigado a los parámetros de los componentes abstractos del modelo de datos orientado a objetos virtual de base proporcionado para generar un modelo de datos dedicado para el tipo de sistema del sistema (2) complejo investigado; y

(c) realizar (S3) un modo de fallo y/o un análisis de causa raíz del sistema (2) complejo investigado basándose en el modelo de datos dedicado generado para el tipo de sistema específico del sistema (2) complejo investigado.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2016/051744.

Solicitante: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: Werner-von-Siemens-Straße 1 80333 München ALEMANIA.

Inventor/es: FISHKIN,ALEXEY, ROSHCHIN,MIKHAIL, WATSON,STUART, CESCHINI,GIUSEPPE FABIO.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G05B23/02 SECCION G — FISICA.G05 CONTROL; REGULACION.G05B SISTEMAS DE CONTROL O DE REGULACION EN GENERAL; ELEMENTOS FUNCIONALES DE TALES SISTEMAS; DISPOSITIVOS DE MONITORIZACION O ENSAYOS DE TALES SISTEMAS O ELEMENTOS (dispositivos de maniobra por presión de fluido o sistemas que funcionan por medio de fluidos en general F15B; dispositivos obturadores en sí F16K; caracterizados por particularidades mecánicas solamente G05G; elementos sensibles, ver las subclases apropiadas, p. ej. G12B, las subclases de G01, H01; elementos de corrección, ver las subclases apropiadas, p. ej. H02K). › G05B 23/00 Ensayo o monitorización de sistemas de control o de sus elementos (monitorización de sistemas de control por programa G05B 19/048, G05B 19/406). › ensayo o monitorización eléctricos.

PDF original: ES-2794748_T3.pdf

 

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