Prueba del ciclo de vida.
Un sistema (102) de pruebas que comprende:
un procesador (202);
y
una memoria (206) acoplada al procesador (202),comprendiendo la memoria (206):
un módulo (108) de actualización configurado para recopilar una pluralidad de criterios de rendimiento, una pluralidad de casos de prueba y reglas de vínculo predefinidas para vincular al menos un caso de prueba, de entre la pluralidad de casos de prueba, con uno de la pluralidad de criterios de rendimiento, en una base de datos; y un módulo de actualización configurado para:
recibir uno de un criterio de rendimiento modificado asociado con un prototipo actualizado y un criterio de rendimiento incremental asociado con el prototipo actualizado, en el que el criterio de rendimiento modificado es una versión modificada de un criterio de rendimiento original que falló durante la prueba de un primer prototipo y el criterio de rendimiento incremental es un nuevo criterio de rendimiento añadido al criterio de rendimiento original del primer prototipo;
un módulo de extracción configurado para: extraer automáticamente el al menos un caso de prueba, a base al menos de las reglas de vínculo predefinidas, en el que el al menos un caso de prueba está vinculado a uno del criterio de rendimiento incremental asociado con el prototipo actualizado y el criterio de rendimiento modificado asociado con el prototipo actualizado; un módulo (212) de ejecución configurado para habilitar la ejecución del al menos un caso de prueba extraído por el módulo (108) de extracción en el prototipo actualizado; y
un módulo (216) de versionado configurado para:
almacenar el criterio de rendimiento incremental asociado con el prototipo actualizado, el criterio de rendimiento modificado asociado con el prototipo actualizado y el al menos un caso de prueba extraído por el módulo de extracción.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E11164350.
Solicitante: Tata Consultancy Services Limited.
Nacionalidad solicitante: India.
Dirección: Nirmal Building 9th Floor Nariman Point Mumbai 400 021 Maharashtra INDIA.
Inventor/es: ARUMUGHAM,PRABHU, AUGUSTINE,NISHA, NOEL,RUBY FELICIA, RAJU,BHANU, SUBRAMANIAM,PRABHU.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G06F11/36 FISICA. › G06 CALCULO; CONTEO. › G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › G06F 11/00 Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización (detección, corrección o monitorización de errores en el almacenamiento de información basado en el movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B 20/18; monitorización, es decir, supervisión del progreso del registro o reproducción G11B 27/36; en memorias estáticas G11C 29/00). › Prevención de errores probando o depurando el software.
PDF original: ES-2707230_T3.pdf
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