Dispositivo de inspección de anomalías, unidad central de procesamiento y método de inspección de anomalías.

Una unidad de inspección de fallos provista para una unidad central de procesamiento (12) conectada a una unidad de gestión de memoria (20),

comprendiendo la unidad central de procesamiento (12) la unidad de inspección de fallos, la unidad de gestión de memoria (20) está configurada para traducir una dirección física que es una dirección de una memoria física (14) a una dirección virtual que es una dirección de una memoria virtual y generar una primera señal que indica un acceso ilegal si la memoria física (14) es inaccesible con la dirección física a la que se traduce la dirección virtual, la unidad central de procesamiento (12) está configurada para enviar la dirección virtual a la unidad de gestión de memoria (20), permitir que se ingrese la primera señal y terminar un programa que se ejecuta si se ingresa la primera señal, comprendiendo la unidad de inspección de fallos:

un medio de cambio para cambiar un modo de funcionamiento de la unidad de procesamiento central (12) a un modo de prueba en el que la unidad de procesamiento central (12) no finaliza un programa que se está ejecutando incluso si la unidad de gestión de memoria (20) emite la primera señal;

la unidad de inspección de fallos se caracteriza además por:

un medio de salida para la salida, mientras la unidad central de procesamiento (12) está operando en el modo de prueba, una segunda señal a la unidad de gestión de memoria (20) para hacer que la unidad de gestión de memoria (20) emita la primera señal; y

un medio de detección para detectar si la primera señal se introduce o no en la unidad central de procesamiento (12) después de que el medio de salida emite la segunda señal a la unidad de gestión de memoria (20).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2011/064116.

Solicitante: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD..

Inventor/es: NAKAIDE,MINORU, TODA,SHINICHI.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G06F11/26 SECCION G — FISICA.G06 COMPUTO; CALCULO; CONTEO.G06F TRATAMIENTO DE DATOS DIGITALES ELECTRICOS (computadores en los que una parte del cálculo se efectúa hidráulica o neumáticamente G06D, ópticamente G06E; sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › G06F 11/00 Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización del funcionamiento (métodos o disposiciones para verificar la exactitud del marcado sobre un soporte de registro G06K 5/00; en el registro de información basado en un movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B, p. ej. G11B 20/18; en las memorias estáticas G11C 29/00). › Pruebas funcionales.
  • G06F11/30 G06F 11/00 […] › Vigilancia del funcionamiento.
  • G06F12/08 G06F […] › G06F 12/00 Acceso, direccionamiento o asignación en sistemas o arquitecturas de memoria (registro de la información en general G11). › en sistemas de memorias jerárquicas, p. ej. sistemas de memoria virtual.

PDF original: ES-2745120_T3.pdf

 

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