Dispositivo de inspección de anomalías, unidad central de procesamiento y método de inspección de anomalías.

Una unidad de inspección de fallos provista para una unidad central de procesamiento (12) conectada a una unidad de gestión de memoria (20),

comprendiendo la unidad central de procesamiento (12) la unidad de inspección de fallos, la unidad de gestión de memoria (20) está configurada para traducir una dirección física que es una dirección de una memoria física (14) a una dirección virtual que es una dirección de una memoria virtual y generar una primera señal que indica un acceso ilegal si la memoria física (14) es inaccesible con la dirección física a la que se traduce la dirección virtual, la unidad central de procesamiento (12) está configurada para enviar la dirección virtual a la unidad de gestión de memoria (20), permitir que se ingrese la primera señal y terminar un programa que se ejecuta si se ingresa la primera señal, comprendiendo la unidad de inspección de fallos:

un medio de cambio para cambiar un modo de funcionamiento de la unidad de procesamiento central (12) a un modo de prueba en el que la unidad de procesamiento central (12) no finaliza un programa que se está ejecutando incluso si la unidad de gestión de memoria (20) emite la primera señal;

la unidad de inspección de fallos se caracteriza además por:

un medio de salida para la salida, mientras la unidad central de procesamiento (12) está operando en el modo de prueba, una segunda señal a la unidad de gestión de memoria (20) para hacer que la unidad de gestión de memoria (20) emita la primera señal; y

un medio de detección para detectar si la primera señal se introduce o no en la unidad central de procesamiento (12) después de que el medio de salida emite la segunda señal a la unidad de gestión de memoria (20).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2011/064116.

Solicitante: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD..

Inventor/es: NAKAIDE,MINORU, TODA,SHINICHI.

Fecha de Publicación: 7 de Agosto de 2019.

Clasificación Internacional de Patentes:

G06F11/26 FISICA. › G06 CALCULO; CONTEO. › G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › G06F 11/00 Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización (detección, corrección o monitorización de errores en el almacenamiento de información basado en el movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B 20/18; monitorización, es decir, supervisión del progreso del registro o reproducción G11B 27/36; en memorias estáticas G11C 29/00). › Pruebas funcionales.
G06F11/30 G06F 11/00 […] › Vigilancia del funcionamiento.
G06F12/08 G06F […] › G06F 12/00 Acceso, direccionamiento o asignación en sistemas o arquitecturas de memoria (entrada digital a partir de, o salida digital hacia soportes de registro, p. ej. hacia unidades de almacenamiento de disco G06F 3/06). › en sistemas de memorias jerárquicas, p. ej. sistemas de memoria virtual.

PDF original: ES-2745120_T3.pdf

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