Filtro y método de fabricación de aquel y dispositivo de monitoreo de longitud de onda de láser.

Un aparato de monitoreo de longitud de onda de láser, que comprende dos receptores ópticos (5a,

5b), que además comprende un filtro (15), en donde el filtro comprende:

dos cuerpos translúcidos (9), en donde cada uno de los cuerpos translúcidos tiene un primer plano (10), un segundo plano (11) que forma un ángulo 5 interno con el primer plano (10), y un tercer plano (12) que se cruza tanto con el primer plano (10) como con el segundo plano (11), en donde los primeros planos de los dos cuerpos translúcidos son paralelos entre sí, y los segundos planos de los dos cuerpos translúcidos son paralelos entre sí;

una película divisora de haz (13), en donde la película divisora de haz (13) tiene una relación de división fija, se configura para dividir una luz de láser incidente por la relación, y se enchapa primero en el primer plano 10 de uno de los cuerpos translúcidos (9), y el primer plano (10) del otro cuerpo translúcido (9) se une entonces a la película divisora de haz (13); caracterizada por que:

dos películas reflectantes (14), respectivamente combinadas con los segundos planos de los dos cuerpos translúcidos;

la película divisora de haz (13) y las dos películas reflectantes (14) aseguran que la resonancia de interferencia paralela estable pueda formarse en el filtro; y

las dos películas reflectantes (14) del filtro, respectivamente, miran a un puerto de transmisión de un láser (7) y a un orificio de tubo de un puerto incidente (8) de una fibra de transmisión, y los dos terceros planos del filtro,

respectivamente, miran a puertos de recepción de los dos receptores ópticos.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/CN2013/076273.

Solicitante: HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD..

Nacionalidad solicitante: China.

Dirección: Huawei Administration Building, Bantian, Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129 CHINA.

Inventor/es: WANG,LEI, LIN,HUAFENG, ZHOU,MIN, LIAO,ZHENXING.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G02B6/34 SECCION G — FISICA.G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 6/00 Guías de luz; Detalles de estructura de las disposiciones que comprenden guías de luz y otros elementos ópticos, p. ej. medios de acoplamiento. › utilizando prismas o redes.

PDF original: ES-2710558_T3.pdf

 

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