Detector de defectos ultrasónico y método de detección ultrasónica de defectos para objetos que tienen una forma superficial compleja.
Un detector de defectos ultrasónico (1) que comprende:
una sonda ultrasónica (11) que comprende una pluralidad de elementos ultrasónicos y configurada para emitir una onda ultrasónica (U) sobre un objeto (2) a inspeccionar y para recibir una onda ultrasónica reflejada desde el objeto (2);
una unidad de control de elementos de accionamiento (13) configurada para controlar la pluralidad de elementos ultrasónicos para emitir la onda ultrasónica (U) sobre el objeto (2) y para controlar una onda ultrasónica reflejada desde el objeto (2);
una unidad de control de retardo (22) configurada para controlar una oscilación de cada uno de la pluralidad de elementos ultrasónicos con un tiempo de retardo apropiado; y
una unidad de análisis (15) configurada para analizar la señal recibida de la onda ultrasónica reflejada y para calcular un resultado de detección de defectos,
una unidad de cálculo (18) configurada para obtener un ángulo de incidencia (α) de la onda ultrasónica (U) que entra en una posición de incidencia (S) usando un ángulo de refracción (ß) de la onda ultrasónica (U) incidente en el objeto (2), la posición de incidencia (S) de la onda ultrasónica (U) sobre una superficie del objeto (2) y una forma superficial de una superficie del objeto (2) en la posición de incidencia (S), y para calcular retroactivamente la posición central (Ec) de una pluralidad de elementos ultrasónicos accionados simultáneamente, en función de la posición de incidencia (S) y del ángulo de incidencia (α), manteniendo ángulos de refracción (ß) uniformes y fijando los puntos incidentes (S) y los puntos focales (F) del objeto como constantes, en donde la unidad de cálculo (18) está configurada además para calcular y obtener la posición de incidencia (S) en función del ángulo de refracción (ß) y de un punto focal (F) de la onda ultrasónica (U), en el caso de accionar el elemento ultrasónico bajo condiciones de detección de defectos, que se usarán para el objeto (2) que tiene una forma superficial plana.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E12176468.
Solicitante: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA.
Inventor/es: YAMAMOTO, SATOSHI, NAGAI,SATOSHI, MITSUHASHI,TADAHIRO, OCHIAI,MAKOTO, ADACHI,HIROYUKI, TAKABAYASHI,JUNICHI, YAMAMOTO,SETSU, MIURA,TAKAHIRO, SEMBOSHI,JUN, WATANABE,KAZUMI, OTSUKA,MASARU.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N29/04 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 29/00 Investigación o análisis de materiales por el empleo de ondas ultrasonoras, sonoras o infrasonoras; Visualización del interior de objetos por transmisión de ondas ultrasonoras o sonoras a través del objeto (G01N 3/00 - G01N 27/00 tienen prioridad). › Análisis de sólidos (utilizando técnicas de emisión acústica G01N 29/14).
- G01N29/26 G01N 29/00 […] › Disposiciones para la orientación o el barrido.
PDF original: ES-2745122_T3.pdf
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