Bastidor de medición con filtro óptico para la determinación óptica sin contacto de una posición de penetración.

Bastidor de medición para la determinación óptica sin contacto de una posición de penetración de un proyectil (134) a través de una superficie objetivo (102),

comprendiendo el bastidor de medición (100):

al menos una primera fuente de radiación (120) para emitir un primer campo de radiación divergente (116);

al menos una segunda fuente de radiación (120) para emitir un segundo campo de radiación divergente (116), en donde el primer y el segundo campo de radiación se cruzan bajo un ángulo en un plano transversalmente a una dirección de penetración;

al menos un primer y al menos un segundo equipo receptor óptico, que están asociados en cada caso a la al menos una primera y una segunda fuente de radiación (120);

en donde cada uno de los equipos receptores ópticos presenta un conjunto de elementos receptores ópticos (136) que miden la intensidad de radiación recibida en cada caso, de modo que se determina una posición de sombra extendida espacialmente como consecuencia del proyectil que va a detectarse (134),

presentando el bastidor de medición (100), para suprimir radiación indeseada, al menos un diafragma receptor (118, 118', 118"),

comprendiendo el bastidor de medición (100) al menos un filtro óptico (206), que es transparente al menos para un primer intervalo de longitud de onda predeterminado y que no es transparente para al menos un segundo intervalo de longitud de onda predeterminado del espectro de la luz solar, y

en donde el diafragma receptor (118, 118', 118") presenta un conjunto de diafragmas perforados (126, 126', 126"), de los que cada diafragma perforado está asociado a un elemento receptor óptico (136),

caracterizado por que

el filtro óptico (206) se apoya contra el diafragma receptor (118, 118', 118") y una superficie de filtro del filtro óptico cubre al menos un conjunto de diafragmas perforados (126, 126', 126").

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E18157372.

Solicitante: Meyton Elektronik GmbH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: Spenger Straße 38 49328 Melle ALEMANIA.

Inventor/es: TEGELHÜTTER,STEFAN, WITTE,UDO, HOFFMANN,STEFFEN.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • F41J5/02 SECCION F — MECANICA; ILUMINACION; CALEFACCION; ARMAMENTO; VOLADURA.F41 ARMAS.F41J BLANCOS O DIANAS; CAMPOS DE TIRO; COLECTORES DE BALAS.F41J 5/00 Sistemas indicadores para el tiro al blanco; Sistemas detectores de blancos acertados o indicadores de puntuación. › Sistemas fotoeléctricos detectores de blancos acertados.
  • F41J5/08 F41J 5/00 […] › Sistemas de infrarrojos indicadores de blancos acertados.
  • G01V8/20 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01V GEOFISICA; MEDIDA DE LA GRAVITACION; DETECCION DE MASAS U OBJETOS; MARCAS O ETIQUETAS DE IDENTIFICACION (medios para indicar dónde se encuentran personas sepultadas accidentalmente, p. ej. por la nieve A63B 29/02). › G01V 8/00 Prospección o detección por medios ópticos. › utilizando múltiples emisores o receptores.

PDF original: ES-2775900_T3.pdf

 

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