Aparato de medición de posición absoluta.
Aparato (20) de medición de posición absoluta, que comprende
•
un primer subconjunto (20.1), con una medida materializada (22), en la que está dispuesta al menos una pista (23) de código, y una unidad (24) de exploración, con la que, mediante una exploración de la o las pistas (23) de código en una dirección (X) de medición, pueden generarse señales (S) de posición a partir de las cuales puede generarse un valor digital absoluto (P) de posición, y
• un segundo subconjunto (20.2), con al menos una unidad periférica (30, 31, 32, 33, 34), configurada para ejecutar una función adicional o auxiliar del aparato (20) de medición de posición, así como con una interfaz digital (36) de aparato, para la comunicación con una unidad (50) de mando,
en donde el primer subconjunto (20.1) y el segundo subconjunto (20.2) están conectados entre sí para la transmisión de señales eléctricas mediante una pluralidad de líneas eléctricas (21), y el primer subconjunto (20.1) comprende exclusivamente componentes (22, 25, 26, 41) adecuados para el empleo en una zona (A) de radiación de una máquina, en la que aparece radiación ionizante.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E13177628.
Solicitante: DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: DR. JOHANNES-HEIDENHAIN-STRASSE 5 83301 TRAUNREUT ALEMANIA.
Inventor/es: BRATZDRUM,ERWIN, AUER,DANIEL.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B7/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios eléctricos o magnéticos.
- G01D3/08 G01 […] › G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01D 3/00 Disposiciones para la medida con provisiones para los fines especiales indicados en los subgrupos de este grupo. › con provisiones para proteger el aparato, p. ej. contra funcionamientos anormales, contra averías.
- G01D5/244 G01D […] › G01D 5/00 Medios mecánicos para la transferencia de la magnitud de salida de un elemento sensor; Medios para la conversión de la magnitud de salida de un elemento sensor en otra variable, en los que la forma o naturaleza del elemento sensor no determinan los medios de conversión; Transductores no especialmente adaptados a una variable específica (G01D 3/00 tiene prioridad; especialmente adaptados para aparatos que dan resultados distintos al valor instantáneo de una variable G01D 1/00). › que influyen en las características de pulsos o trenes de pulsos; que generan pulsos o trenes de pulsos.
- G01D5/347 G01D 5/00 […] › que utilizan escalas de codificación de desplazamiento.
- H01L23/552 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctricas en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › H01L 23/00 Detalles de dispositivos semiconductores o de otros dispositivos de estado sólido (H01L 25/00 tiene prioridad). › Protección contra las radiaciones, p. ej. la luz.
PDF original: ES-2704236_T3.pdf
Patentes similares o relacionadas:
Sistema y proceso para determinar desplazamientos de instrumentos de medición, del 10 de Junio de 2020, de PSC Engineering S.r.l: Sistema para determinar y restar desplazamientos (δ) de instrumentos de medición e instrumentaciones para aplicaciones navales para estabilizar […]
Método de estimación de fase y aparato para el mismo, del 20 de Mayo de 2020, de Novanta Corporation: Aparato para estimación de fase mediante el procesamiento de señales de sensor desde un conjunto de sensores , transportando las señales de sensor colectivamente una fase […]
Dispositivo de medición de la posición y procedimiento para el funcionamiento de un dispositivo de medición de la posición, del 29 de Abril de 2020, de DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH: Dispositivo de medición de la posición que comprende: - un soporte de división , sobre el que está dispuesta la división de la medición , - una […]
Adaptador de enchufe, instrumento de ajuste y robot asociado, del 22 de Abril de 2020, de KUKA Deutschland GmbH: Adaptador de enchufe, que presenta: - una rosca , que está configurada para atornillar el adaptador de enchufe a un instrumento de ajuste , - un dispositivo […]
Dispositivo de medida de posición y método para utilizar un dispositivo de medida de posición, del 6 de Noviembre de 2019, de DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH: Dispositivo de medida de posición que comprende un soporte de graduación sobre el que hay situada una graduación de medida , una unidad de detección […]
Cuentarrevoluciones magnético para la autodetección de estados de error al determinar el número de revoluciones detectables con este cuentarrevoluciones, del 23 de Octubre de 2019, de Leibniz-Institut für Photonische Technologien e.V: Cuentarrevoluciones magnético o contador de desplazamiento para la autodetección de estados de error al determinar números de revoluciones o números de desplazamientos […]
Método de comprobación para un dispositivo optoelectrónico de medida, y dispositivo, del 16 de Octubre de 2019, de FAGOR AUTOMATION S.COOP: Método de comprobación para un dispositivo optoelectrónico de medida, comprendiendo el dispositivo una regla graduada con una pluralidad de marcas distribuidas […]
Dispositivo de medición de posición y método de funcionamiento de un dispositivo de medición de posición, del 28 de Agosto de 2019, de DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH: Dispositivo de medición de posición que comprende un soporte de graduación con una graduación de medición , una unidad de exploración […]