Reflector pasivo de onda electromagnética para medir la deformación local de una estructura en la superficie terrestre.

Reflector pasivo de onda electromagnética para medir la deformación local de una estructura situada en la superficie terrestre,

siendo el reflector adecuado para reflejar, hacia un satélite en órbita alrededor de la Tierra, una onda electromagnética que recibe procedente de dicho satélite, caracterizado por que comprende:

- una placa (P1) que tiene un lado rectilíneo (a1) adecuado para ponerse en contacto con la estructura, y

- fijada a dicha placa (P1), una estructura mecánica (P2, P3) constituida por una primera placa (P2) y una segunda placa (P3) insertadas en dicha placa y teniendo, cada una, un lado rectilíneo (a3) distribuido de un lado a otro de dicha placa, estando el lado rectilíneo de la primera placa en contacto con el lado rectilíneo de la segunda placa para formar una arista rectilínea (a3) de la estructura mecánica distribuida a un lado y otro de dicha placa, formando la primera placa (P2), la segunda placa (P3) y dicha placa (P1), a un lado y a otro de dicha placa, una cavidad adecuada para reflejar, en dirección del satélite, la onda electromagnética que recibe procedente del satélite, estando la arista rectilínea (a3, a3) de la estructura mecánica y el lado rectilíneo (a1) de dicha placa situados en un mismo plano perpendicular a un plano definido por dicha placa y constituyendo, en combinación, unos medios de retención del reflector sobre la estructura

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2012/050927.

Solicitante: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: 25, rue Leblanc, Bâtiment "Le Ponant D" 75015 Paris FRANCIA.

Inventor/es: LOREAUX,PHILIPPE, QUIN,GUILLAUME.

Fecha de Publicación: 21 de Marzo de 2018.

Clasificación Internacional de Patentes:

G02B5/122 FISICA. › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 5/00 Elementos ópticos distintos de las lentes (guías de luz G02B 6/00; elementos ópticos lógicos G02F 3/00). › del tipo con vértice cúbico, en triedro o en reflector triple.
H01Q15/18 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01Q ANTENAS, es decir, ANTENAS DE RADIO (elementos radiantes o antenas para el calentamiento por microondas H05B 6/72). › H01Q 15/00 Dispositivos para la reflexión, refracción, difracción o la polarización de las ondas radiadas por una antena, p. ej. dispositivos cuasi ópticos (variables con el objeto de modificar la directividad H01Q 3/00; disposiciones de tales dispositivos para la conducción de ondas H01P 3/20; variables con el objeto de obtener un efecto de modulación H03C 7/02). › comprendiendo una pluralidad de superficies inclinadas las unas en relación con las otras, p. ej. reflector trirrectángulo.

PDF original: ES-2673477_T3.pdf

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