Sonda de ensayo por corrientes parásitas y método de ensayo por corrientes parásitas.

Una sonda de ensayo por corrientes parásitas (20) para el ensayo de un objeto de ensayo (50),

comprendiendo la sonda de ensayo por corrientes parásitas (20) una pluralidad de unidades de sonda dispuestas en una dirección predeterminada, comprendiendo cada unidad de sonda:

bobinas excitadoras (2) que incluyen una primera bobina excitadora (2a) y una segunda bobina excitadora (2b) que son idénticas entre sí y dispuestas en simetría puntual, y cada una de las cuales se configura para generar un campo magnético alterno para generar una corriente parásita en dicho objeto de ensayo (50); y

bobinas detectoras (1) que incluyen una primera bobina detectora (1a) y una segunda bobina detectora (1b) que son idénticas entre sí, dispuestas en simetría puntual, y conectadas de modo diferencial entre sí, en el que las bobinas excitadoras y las bobinas detectoras se disponen sobre una única superficie,

caracterizada por que

las bobinas excitadoras y las bobinas detectoras se disponen con una primera línea central de simetría (CL1) de la primera bobina detectora (1a) y la segunda bobina detectora (1b) que intersectan con una segunda línea central de simetría (CL2) de la primera bobina excitadora (2a) y la segunda bobina excitadora (2b) en un ángulo recto, y

un primer centro de simetría de la primera línea central de simetría (CL1) y un segundo centro de simetría de la segunda línea central de simetría (CL2) son idénticos entre sí, tal como se ve en una vista en planta de la superficie única,

comprendiendo la sonda de ensayo por corrientes parásitas (20) un oscilador (3) conectado a las bobinas excitadoras (2a, 2b) de modo que una dirección de la primera corriente parásita (EC1) generada por la primera bobina excitadora (2a) y una dirección de una segunda corriente parásita generada por la segunda bobina excitadora (2b) sean opuestas entre sí, y una dirección de una corriente parásita (EC) obtenida por la combinación de la primera y segunda corrientes parásitas (EC1, EC2) es la misma que una dirección de la primera línea central de simetría (CL1).

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14155115.

Solicitante: MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD..

Nacionalidad solicitante: Japón.

Dirección: 16-5, KONAN 2-CHOME, MINATO-KU TOKYO 108-8215 JAPON.

Inventor/es: KUROKAWA,MASAAKI, SHICHIDA,TOMONORI.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N27/90 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 27/00 Investigación o análisis de materiales mediante el empleo de medios eléctricos, electroquímicos o magnéticos (G01N 3/00 - G01N 25/00 tienen prioridad; medida o ensayo de variables eléctricas o magnéticas o de las propiedades eléctricas o magnéticas de los materiales G01R). › utilizando las corrientes de Foucault.

PDF original: ES-2625732_T3.pdf

 

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