Sistema de análisis.

Un aparato para analizar la condición de una máquina que tiene una parte giratoria con una velocidad de rotación (fROT),

que comprende:

un primer sensor adaptado para generar una señal (SEA) de medición eléctrica analógica que depende de las vibraciones (VMD) mecánicas que emanan de la rotación de dicha parte;

un convertidor (44) analógico a digital adaptado para muestrear dicha señal de medición eléctrica analógica (SEA) a una frecuencia de muestreo de entrada (fS) para generar una señal de datos de medición digital (SMD, SENV) en respuesta a dicha señal de medición eléctrica analógica (SEA);

un primer decimador (310) configurado para realizar una decimación de la señal de datos de medición digital (SMD, SENV) para obtener una primera señal digital (SRED1) que tiene una primera frecuencia de muestreo reducida (fSR1) tal que la primera frecuencia de muestreo reducida (fSR1) se reduce en un factor de números enteros (M) en comparación con la frecuencia de muestreo de entrada (fS);

un segundo decimador (470B) configurado para generar una segunda señal digital (SRED2, R) que tiene una segunda frecuencia de muestreo reducida (fSR2), más baja que la primera frecuencia de muestreo reducida (fSR1) por un valor de decimación fraccionaria (D), y

un evaluador (230, 290, 290T, 290F, 294) configurado para realizar una función de análisis de condición (F1, F2, Fn) para analizar la condición de la máquina que depende de dicha segunda señal digital (SRED2); caracterizado porque

dicho primer decimador tiene un puerto configurado para recibir dicho factor de número entero (M); en el que dicho factor de número entero (M) se establece en dependencia de una velocidad de rotación detectada (fROT); y porque

dicho segundo decimador (470B) es un decimador fraccional que tiene

una primera entrada configurada para recibir dicha primera señal digital (SRED1, S(j)) como una secuencia de valores de datos (S(j)); y

una segunda entrada configurada para recibir una señal indicativa de dicha velocidad de rotación variable detectada (fROT) asociada con dicha parte; y

una tercera entrada configurada para recibir una señal indicativa de una señal de ajuste de la tasa de muestreo de salida;

una memoria (604) adaptada para recibir y almacenar los valores de datos (S(j)), así como información indicativa de la velocidad de rotación (fROT) correspondiente de la parte giratoria monitorizada; y

un filtro (608) de respuesta de impulso finito que tiene valores (Fval) de filtro; y porque

dicho segundo decimador (470B) está adaptado para generar dicha segunda señal (SRED2, R) digital en respuesta a

dicha primera señal digital (SRED1, S(j)),

dicha señal indicativa de dicha velocidad (fROT) de rotación variable detectada y dicha señal indicativa de una señal de ajuste de tasa de muestreo de salida;

y porque

dicho segundo decimador (470B) está configurado para registrar (S2070) dichos valores de datos (S(j)) en dicha memoria (604), y asociar cada valor de datos con un valor de velocidad de rotación (fROT); en el que dicha memoria está adaptada para almacenar cada valor de datos (S(j)) de modo que esté asociado con un valor indicativo de la velocidad de rotación de la parte monitorizada en el momento de la detección del valor de la señal del sensor (SEA) correspondiente al valor de los datos (S(j)); y porque

dicho segundo decimador (470B) está configurado para analizar los valores de la velocidad de rotación registrada (fROT) y dividir los valores de datos registrados (S(j)) en bloques de datos que dependen de los valores de velocidad de rotación (fROT) para generar un número de bloques de valores de datos (S(j)), estando asociado cada bloque de valores de datos (S(j)) con un valor de velocidad de rotación (fROT);

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/SE2009/051490.

Solicitante: SPM INSTRUMENT AB.

Nacionalidad solicitante: Suecia.

Dirección: P.O. Box 504 645 25 Strängnäs SUECIA.

Inventor/es: HEDIN,LARS-OLOV ELIS.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01H1/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01H MEDIDA DE VIBRACIONES MECANICAS O DE ONDAS ULTRASONORAS, SONORAS O INFRASONORAS.Medida de vibraciones en sólidos utilizando la conducción directa al detector (G01H 9/00, G01H 11/00 tienen prioridad).
  • G01M13/02 G01 […] › G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR.G01M 13/00 Ensayo de piezas de máquinas. › Ensayo de mecanismos de engranaje o de transmisión.
  • G01M13/04 G01M 13/00 […] › Ensayo de rodamientos.
  • G01M99/00 G01M […] › Ensayo de estructuras o aparatos, no previstos en los otros grupos de esta subclase.

PDF original: ES-2656404_T3.pdf

 

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