Procedimiento fluorimétrico para la monitorización de un sistema de limpieza in situ.

Un procedimiento para la monitorización de un sistema CIP (limpieza in situ) que comprende las etapas de:



a. proporcionar un fluorimetro;

b. monitorización fluorimétrica de dicho sistema CIP;

c. preaclarar dicho sistema CIP con agua potable;

d. añadir una primera cantidad conocida de indicador fluorescente y una primera cantidad conocida de producto químico a dicho sistema CIP o el producto quimico con propiedades fluorescentes en solitario a dicho sistema CIP;

e. hacer circular dicho indicador fluorescente y dicho producto químico durante un período de tiempo predeterminado o hacer circular dicho producto químico en solitario durante un período de tiempo predeterminado;

f. usar dicho fluorímetro para detectar la fluorescencia de cualquiera de dicho producto químico, dicho indicador fluorescente, o ambos, en dicho sistema CIP, en el que dicho fluorímetro produce una señal de salida proporcional a la fluorescencia detectada;

g. ajustar opcionalmente la cantidad de dosificación de dicho indicador fluorescente y producto químico o del producto químico en solitario basándose en la señal de salida de dicho fluorímetro;

h. aclarar finalmente dicho sistema CIP con agua potable hasta que la señal de salida de dicho fluorímetro ya no se pueda detectar o índique un nivel predetermínado de dicho indicador fluorescente, producto químico o ambos;

i. añadír una cantidad conocida de un indicador fluorescenle de la segunda fase a dicho sistema CIP ; Y

j. purgar dicho sistema CIP con agua potable hasta que la señal de salida de dicho fluorímetro para dicho indicador de la segunda fase ya no se pueda detectar o indique un nivel predeterminado de dicho indicador de la segunda fase.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2006/023700.

Solicitante: NALCO COMPANY.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 1601 WEST DIEHL ROAD NAPERVILLE, IL 60563-1198 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: HOTSLANDER,JOHN, HOOTS,JOHN, VAN CAMP,JAMES R.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N27/64 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 27/00 Investigación o análisis de materiales mediante el empleo de medios eléctricos, electroquímicos o magnéticos (G01N 3/00 - G01N 25/00 tienen prioridad; medida o ensayo de variables eléctricas o magnéticas o de las propiedades eléctricas o magnéticas de los materiales G01R). › Utilización de ondas o de radiaciones de partículas para ionizar un gas, p. ej. en una cámara de ionización.

PDF original: ES-2621082_T3.pdf

 

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