Procedimiento y aparato para tomar muestras de lodo de un flujo de proceso continuo por gravedad, y utilización del aparato.

Procedimiento para tomar muestras de lodo desde un flujo (PF) de un proceso continuo por gravedad de tipo canal abierto sin presión,

llevándose a cabo el muestreo en dos etapas, y teniendo dicho flujo (PF) de proceso una primera anchura (l1), en el que

- un flujo de muestra primario (PSF) que tiene una segunda anchura (l2), que es sustancialmente más estrecha que la primera anchura, se separa del flujo (PF) de proceso mediante una primera unidad de muestreo (1), - el flujo de muestra primario separado se ensancha a lo ancho hasta una tercera anchura (l3),

- un flujo de muestra secundario (SSF) que tiene una cuarta anchura (l4), que es sustancialmente más estrecha que la tercera anchura (l3), es separado mediante una segunda unidad de muestreo (2) del flujo de muestra primario (PSF) en la posición de la tercera anchura (l3), y

- el flujo de muestra secundario (SSF) es llevado a analizar, siendo dispuestos el flujo de muestra primario (PSF) y el flujo de muestra secundario (SSF) como flujos de tipo canal abierto sin presión, de tal modo que el caudal del flujo de muestra secundario (SSF) que se debe llevar a analizar es aproximadamente proporcional al caudal instantáneo del flujo (PF) de proceso; caracterizado porque el flujo (PF) del proceso es ajustado a un caudal que es lo suficientemente elevado como para crear un pozo de flujo (W) detrás, y junto al extremo posterior (3) de la primera unidad de muestreo (1) con el fin de impedir cualquier reflujo del flujo (PF) de proceso a la primera y la segunda unidades de muestreo (1, 2).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FI2013/050894.

Solicitante: Outotec (Finland) Oy.

Nacionalidad solicitante: Finlandia.

Dirección: Rauhalanpuisto 9 02230 Espoo FINLANDIA.

Inventor/es: KORPELA,TAPIO, VON ALFTHAN,CHRISTIAN.

Fecha de Publicación: 14 de Septiembre de 2016.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01N1/20 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › para material fluyente o que se desploma (G01N 1/12, G01N 1/14 tienen prioridad).

PDF original: ES-2605636_T3.pdf

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