Procedimiento y dispositivo para registrar parámetros de una banda de material continua o giratoria en una máquina de procesamiento de material.
Procedimiento para registrar parámetros una banda de material continua o giratoria (6) en una máquina de procesamiento de material (1),
caracterizado porque al menos un parámetro de oscilación de al menos una oscilación transversal que aparece en la banda de material (6) se registra sin contacto mediante al menos un sensor (9) y como mínimo se averigua un parámetro de la banda de materia (6) resultante de este parámetro de oscilación, registrándose como al menos un parámetro de oscilación de una oscilación transversal una frecuencia y/o una amplitud y/o una fase de la oscilación transversal, y averiguándose como al menos un parámetro de la banda de material (6) un esfuerzo y/o fuerza de tracción en la dirección de movimiento de la banda de material (6) y/o una velocidad y/o un módulo de elasticidad en la dirección de movimiento de la banda de material (6) y/o una humedad relativa y/o un grosor de la banda de material (6), y registrándose oscilaciones que aparecen como oscilaciones transversales mediante excitación propia en dirección longitudinal y/o transversal en la banda de material (6) o excitándose de manera independiente las oscilaciones transversales que aparecen en la dirección longitudinal y/o dirección transversal de la banda de material (6) mediante excitación mecánica de la banda de material (6).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2012/054509.
Solicitante: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: Wittelsbacherplatz 2 80333 München ALEMANIA.
Inventor/es: LANGE, PETER, DR., MICHAELIS,GERD, STUKENKEMPER,ALEXANDER, SCHWARZER,STEFAN, ZIROFF,ANDREAS, MERKEL,CHRISTIAN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N33/34 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 33/00 Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N 1/00 - G01N 31/00. › papel.
PDF original: ES-2579989_T3.pdf
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