Método y dispositivo para la determinación nefelométrica de un analito.

Método para la determinación nefelométrica de un analito en una muestra,

donde la muestra se encuentra en una célula de medición, donde el método comprende los pasos:

a. colocación de la célula de medición en un sistema nefelométrico con al menos una unidad óptica, donde la unidad óptica comprende al menos una fuente de luz para emitir un haz luminoso, un diafragma para bloquear la parte no dispersada del haz luminoso después de atravesar la célula de medición y un fotodetector para recibir partes dispersadas del haz luminoso después de atravesar la célula de medición;

b. desplazamiento de la célula de medición y/o desplazamiento de la unidad óptica, de manera que el haz luminoso emitido por la fuente de luz atraviesa un trayecto;

c. registro de las señales de intensidad de la luz recibidas por el fotodetector sobre el trayecto, en donde el haz luminoso emitido por la fuente de luz atraviesa la célula de medición;

d. determinación de la ubicación de un intervalo I de las señales de intensidad de la luz registradas, el cual contiene exclusivamente señales de intensidad de la luz que resultan de la parte dispersada del haz luminoso después de atravesar la célula de medición, donde la dimensión del intervalo I resulta de una cantidad definida de señales de intensidad de la luz y es un parámetro predeterminado para el sistema nefelométrico utilizado; y

e. determinación de un analito mediante una señal de intensidad de la señal o a través de un valor medio de varias señales de intensidad de la luz provenientes del intervalo I de las señales de intensidad de la luz registradas; caracterizado porque, la ubicación del intervalo I de las señales de intensidad de la luz registradas se determina evaluando las señales de intensidad de la luz registradas sobre el trayecto, del siguiente modo:

- formación de la primera y de la segunda derivada f'(x) y f"(x) de las señales de intensidad de la luz registradas sobre el trayecto;

- determinación de una primera posición Ff en el trayecto con las condiciones f'(x) < 0 y f''(x) ≥ 0;

- determinación de una segunda posición Fs en el trayecto con las condiciones f'(x) > 0 y f"(x) ≥ 0; y

- determinación de una tercera posición M en el trayecto a través de la fórmula M ≥ Ff + (Fs - Ff)/2; y

- posicionamiento del intervalo I, de manera que la posición M forma el centro del intervalo I.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14185251.

Solicitante: SIEMENS HEALTHCARE DIAGNOSTICS PRODUCTS GMBH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: EMIL-VON-BEHRING-STRASSE 76 35041 MARBURG ALEMANIA.

Inventor/es: PRYSHCHEPNA,OKSANA, STEINEBACH,WOLFGANG.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N21/47 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Dispersión, es decir, reflexión difusa (G01N 21/25, G01N 21/41 tienen prioridad).
  • G01N21/51 G01N 21/00 […] › en el interior de un recipiente, p. ej. en una ampolla (G01N 21/53 tiene prioridad).

PDF original: ES-2623452_T3.pdf

 

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