Medida de compuestos gaseosos usando espectroscopía.

Un método para medir el perfil espacial del contenido de un compuesto gaseoso en una mezcla de gases,

método que comprende:

- Generar un haz de luz (170), donde el haz de luz (170) comprende fotones que tienen una longitud de onda del haz (λb), y

- Guiar al menos parte del haz de luz (170) a un primer camino óptico (160) de manera que al menos parte de los fotones del haz de luz (170) recorran el primer camino óptico (160) en una primera dirección, donde

- El primer camino óptico (160) pasa a través de un espacio (110) que contiene la mezcla de gases que comprende el compuesto gaseoso,

por lo que el haz de luz (170) es atenuado a un haz de luz atenuado (175),

caracterizado por

- Generar al menos un último pulso de luz (710, 710a), donde el último pulso de luz (710, 710a) comprende fotones (515, 515b) que tienen una primera longitud de onda de pulso (λp1),

- Dividir, utilizando el último pulso de luz (710, 710a) o una secuencia de pulsos de luz (710, 710a, 710b, 710c), al menos parte de los átomos, moléculas, iones o radicales del compuesto gaseoso (510), en una primera parte (520) y en una segunda parte (525), donde la secuencia de pulsos de luz (710, 710a, 710b, 710c) comprende al menos el último pulso de luz (710, 710a),

- Seleccionar la longitud de onda del haz (λb) de forma que la longitud de onda del haz (λb) corresponda a un perfil de absorción de la primera parte (520),

- Guiar al menos parte del último pulso de luz (710, 710a) o al menos parte de un pulso de luz (710, 710a, 710b, 710c) de la secuencia de pulsos de luz al primer camino óptico (160), tal que los fotones (515, 515b) de la parte guiada del pulso de luz viajen en una segunda dirección, donde - La segunda dirección es inversa a la primera dirección,

- Detectar un primer perfil (Ik(t)) indicativo de la intensidad del haz de luz atenuado (175) en función del tiempo, y

- Determinar, utilizando el primer perfil (Ik(t)) indicativo de la intensidad del haz de luz atenuado (175) en función del tiempo, el perfil espacial (ξG(x)) del contenido del compuesto gaseoso en el primer camino óptico (160).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FI2013/050870.

Solicitante: Valmet Technologies Oy.

Nacionalidad solicitante: Finlandia.

Dirección: Keilasatama 5 02150 Espoo FINLANDIA.

Inventor/es: TOIVONEN, JUHA, SORVAJÄRVI,TAPIO.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01J3/42 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES.G01J 3/00 Espectrometría; Espectrofotometría; Monocromadores; Medida del color. › Espectrometría de absorción; Espectrometría de doble haz; Espectrometría por centelleo; Espectrometría por reflexión (disposiciones para la conmutación de haces G01J 3/08).
  • G01J3/427 G01J 3/00 […] › Espectrometría de doble longitud de onda.
  • G01N21/31 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › investigando el efecto relativo del material para las longitudes de ondas características de elementos o de moléculas específicas, p. ej. espectrometría de absorción atómica.

PDF original: ES-2656155_T3.pdf

 

Patentes similares o relacionadas:

Imagen de 'Sistema y método de calibración de la longitud del trayecto'Sistema y método de calibración de la longitud del trayecto, del 29 de Julio de 2020, de Thermo Electron Scientific Instruments LLC: Aparato para medir una propiedad óptica de una muestra, el aparato que comprende: a. un brazo oscilante ; b. una fuente de luz; c. una primera superficie […]

Disposición de detector para botellas de cultivo de sangre con sensores colorimétricos, del 13 de Mayo de 2020, de BIOMERIEUX, INC.: Un dispositivo de detección que comprende: una botella de cultivo de sangre que incorpora un sensor colorimétrico sujeto a cambio de color debido a un cambio […]

Calibración y/o detección de errores en un dispositivo de medición óptica para muestras biológicas, del 15 de Enero de 2020, de F. HOFFMANN-LA ROCHE AG: Un procedimiento para la calibración y/o detección de errores en un dispositivo de medición óptica para muestras biológicas que tiene al menos un primer (3a) y un segundo canal […]

Sistemas de espectroscopía fototérmica para el análisis sincronizado compensado de ensayos de flujo y métodos para usarlos, del 20 de Noviembre de 2019, de Tokitae LLC: Un sistema para detectar la presencia de un analito en una muestra dispuesta en un ensayo de flujo que presenta partículas indicadoras de absorción óptica en su interior, […]

Un dispositivo de monitorización, un sistema y un procedimiento para monitorizar el estado de las frutas, del 16 de Octubre de 2019, de INL - International Iberian Nanotechnology Laboratory: Un dispositivo de monitorización para monitorizar el estado de las frutas, comprendiendo el dispositivo de monitorización : una tira […]

Imagen de 'Dispositivo para mediciones de absorción de radiación y método…'Dispositivo para mediciones de absorción de radiación y método para calibración del mismo, del 25 de Septiembre de 2019, de OPSIS AB: Un dispositivo para mediciones de absorción de radiación, que comprende, una fuente de radiación que emite radiación electromagnética que tiene una longitud […]

Sistema de detección microfluídico, del 25 de Septiembre de 2019, de Zoetis Denmark ApS: Un sistema de detección microfluídico que comprende un cartucho microfluídico y un conjunto de detector, el cartucho microfluídico […]

Aparato de análisis para la determinación de polvo fino, del 7 de Agosto de 2019, de SICK ENGINEERING GMBH: Aparato de análisis óptico para la determinación de polvo fino con - tres fuentes de luz (L1, L2, L3) para la emisión de tres haces de luz de emisión (S1, S2, S3) […]

Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .