Instalación de medición de posición.
Instalación de medición de posición con
una disposición de elementos de escaneo (D1 a D12) para el escaneo de un código absoluto (C),
que está dispuesto en una pista y consiste en elementos de código (C1 a C5) que se suceden entre sí en la dirección de medición X, que forman un código de cadena, asignándose a cada elemento de código (C1 a C5) respectivamente varios de los elementos de escaneo (D1 a D12), siendo la separación entre centros de los elementos de escaneo (D1 a D6) una fracción de la longitud de un elemento de código (C1 a C6);
una instalación de selección (3, 4) para la selección de señales de escaneo (S1 a S12) de estos elementos de selección (D1 a D12);
una instalación de descodificación (5) para la formación de un valor de medición de posición absoluto (POS1) a partir de las señales de escaneo (S1 a S12) seleccionadas, caracterizada por que la instalación de medición de posición está configurada para fijar una primera información de selección (A1) y una segunda información de selección (A2) según diferentes criterios y
comprende una instalación de selección (3, 4) que está configurada para la selección según un primer método, así como para la selección según un segundo método, que se distingue del primer método en cuanto que las señales de escaneo (S1 a S12) en el primer método se eligen en base a la primera información de selección (A1) y en el segundo método se eligen en base a la segunda información de selección (A2), y determinándose a partir de las señales de escaneo (S1 a S12) elegidas según el primer método, un primer valor de medición de posición absoluto (POS1) y determinándose a partir de las señales de escaneo (S1 a S12) elegidas según el segundo método, un segundo valor de medición de posición absoluto (POS2).
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E06021389.
Solicitante: DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: DR. JOHANNES-HEIDENHAIN-STRASSE 5 83301 TRAUNREUT ALEMANIA.
Inventor/es: STRASSER, ERICH, MITTMANN, RUDOLF.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01D5/244 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01D 5/00 Medios mecánicos para la transferencia de la magnitud de salida de un elemento sensor; Medios para la conversión de la magnitud de salida de un elemento sensor en otra variable, en los que la forma o naturaleza del elemento sensor no determinan los medios de conversión; Transductores no especialmente adaptados a una variable específica (G01D 3/00 tiene prioridad; especialmente adaptados para aparatos que dan resultados distintos al valor instantáneo de una variable G01D 1/00). › que influyen en las características de pulsos o trenes de pulsos; que generan pulsos o trenes de pulsos.
- G01D5/249 G01D 5/00 […] › utilizando código de pulsos.
PDF original: ES-2601500_T3.pdf
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