Dispositivo óptico de medición de posición.

Dispositivo óptico de medición de posición para la detección de la posición de dos objetos móviles uno con respecto al otro con

- una medida materializada (10;

10'; 110; 210) que está conectada con uno de los dos objetos, así como

- un sistema de exploración (20; 20'; 120; 220) para la exploración de la medida materializada (10; 10'; 110; 210), que está conectado con el otro de los dos objetos, en el que a través del sistema de exploración (20; 20'; 120; 220) es posible una determinación de posición simultánea a lo largo de una primera dirección de desplazamiento lateral (Y) como también a lo largo de una dirección de desplazamiento vertical (Z) de los objetos y para ello en los lados del sistema de exploración (20; 20'; 120; 220) están configurados dos trayectos de rayo de exploración ladeados uno respecto a otro, en los que un grupo de señales desfasadas se puede generar respectivamente en el lado de salida a partir de haces de rayos parciales interferentes, caracterizado porque

- a través del sistema de exploración (20; 20'; 120; 220) está configurado además al menos un tercer trayecto de rayo de exploración, a través del cual es posible una determinación de posición a lo largo de una segunda dirección de desplazamiento lateral (X) de los objetos, y

- la radiación de una fuente de luz se le puede suministrar al sistema de exploración (20; 20'; 120; 220) a través de un primer conductor de luz y una óptica de acoplamiento común para todos los tres trayectos de rayo de exploración, y

- los haces de rayos parciales interferentes generados en los tres trayectos de rayo de exploración se pueden acoplar a través de una óptica de desacoplamiento común en un segundo conductor de luz (26) que suministra estos haces de rayos a una disposición detectora.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14185047.

Solicitante: DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: DR. JOHANNES-HEIDENHAIN-STRASSE 5 83301 TRAUNREUT ALEMANIA.

Inventor/es: MEISSNER, MARKUS, HOLZAPFEL, WOLFGANG, DRESCHER,JÖRG, KELLNER,ROBERT.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01D5/38 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR.G01D 5/00 Medios mecánicos para la transferencia de la magnitud de salida de un elemento sensor; Medios para la conversión de la magnitud de salida de un elemento sensor en otra variable, en los que la forma o naturaleza del elemento sensor no determinan los medios de conversión; Transductores no especialmente adaptados a una variable específica (G01D 3/00 tiene prioridad; especialmente adaptados para aparatos que dan resultados distintos al valor instantáneo de una variable G01D 1/00). › mediante rejillas de difracción.

PDF original: ES-2604157_T3.pdf

 

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