Analizador automático.
Un analizador automático que comprende:
medios para montar una pluralidad de reactivos sobre ellos;
y
medios para visualizar diferentes tipos de información relativa a los reactivos montados en los medios para montaje de reactivo, donde los diferentes tipos de información incluyen información sobre las posiciones de los reactivos montados, información sobre una validez de calibración de los reactivos, y al menos una de entre información sobre una cantidad restante de cada reactivo e información sobre una fecha de caducidad de cada reactivo,
caracterizado por que
los diferentes tipos de información incluyen además información sobre una validez de control de calidad de los reactivos,
dichos medios de visualización están adaptados para visualizar dichos diferentes tipos de información de forma simultánea en una pantalla (301) resumen del reactivo que tiene presentadas gráficamente, una posición (303) de visualización del estado del reactivo, una posición (304) de visualización del estado de calibración, y una posición (305) de visualización del estado de control de calidad, para que se correspondan con las posiciones físicas en las cuales están colocados los reactivos individuales sobre los medios de montaje, y
dichos medios de visualización están adaptados para la visualización de cada una de dichas posición (303) de visualización del estado del reactivo, posición (304) de visualización del estado de calibración, y posición (305) de visualización del estado de control de calidad, en un color de visualización correspondiente al resultado de una comprobación de estado relativa a dichos diferentes tipos de información realizada para el reactivo montado en la posición física correspondiente a dichas posición (303) de visualización del estado del reactivo, posición (304) de visualización del estado de calibración, y posición (305) de visualización del estado de control de calidad.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E07016015.
Solicitante: Hitachi High-Technologies Corporation.
Nacionalidad solicitante: Japón.
Dirección: 1-24-14, Nishishimbashi 1-chome, Minato-ku Tokyo 105-8717 JAPON.
Inventor/es: MATSUBARA, SHIGEKI, KAPPELHOFF,DIETMAR, AWATA,YASUNAO, SHIMADA,KAZUHIRO, TAKAGI,YOSHIMITSU, ORIHASHI,TOSHIHIDE, DÖPPEN,WERNER.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N35/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.
PDF original: ES-2575142_T3.pdf
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