MÉTODO Y SISTEMA PARA LA DETECCIÓN Y DIAGNÓSTICO DE FALLAS EN MÁQUINAS ELÉCTRICAS EN OPERACIÓN.
La presente invención divulga un método de detección y diagnóstico de fallas para máquinas eléctricas en operación.
El método comprende: i) adquirir simultáneamente una señal de corriente y una señal de voltaje asociadas al devanado de la máquina eléctrica; ii) definir un conjunto de vectores cuyas componentes son valores de DC y/o AC a diferentes niveles de separación y amplificación de las señales de corriente y voltaje; iii) adquirir simultáneamente una señal de corriente y una señal de voltaje asociadas a una falla emulada; iv) definir un conjunto de vectores cuyas componentes son valores de DC y/o AC a diferentes niveles de separación y amplificación para las señales de corriente y voltaje asociados a una falla emulada; v) determinar las variaciones de las componentes de los vectores; vi) comparar entre vectores que presenten variaciones en sus componentes con los vectores de falla emulada; vii) analizar las variaciones y comparaciones con el fin de detectar si existe o no al menos un tipo de falla; y viii) reportar la presencia o ausencia de al menos un tipo de falla en la máquina eléctrica. El presente invento divulga además un sistema para llevar a cabo el método, y se compone de: i) un módulo para la obtención de las señales de corriente y voltaje asociadas al devanado de la máquina eléctrica; ii) un módulo para la emulación de fallas; iii) un módulo sensibilización de señales mediante la separación de niveles de DC y/o AC y la amplificación de la señal resultante; iv) una unidad de memoria para el almacenamiento de los datos de los valores de DC y/o AC; y v) un módulo de procesamiento, análisis y reporte del estado de la máquina.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/IB2014/059431.
Solicitante: UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA.
Nacionalidad solicitante: Colombia.
Dirección: Carrera 45 No. 26-85 Bogota, 111321, COLOMBIA.
Inventor/es: JIMENEZ MEJIA,Raúl Esteban, MESA BETANCUR,Guillermo León.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/34 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de máquinas dinamoeléctricas.
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