Un procedimiento (10) de determinación del rendimiento de campo lejano de un dispositivo RFID (22),

comprendiendo el procedimiento:

realización (12) de una prueba de campo cercano en el dispositivo RFID (22);

determinación (14) del rendimiento de campo lejano del dispositivo RFID (22) a partir de los resultados de prueba de las pruebas de campo cercano; y

caracterizado porque la determinación (14) incluye

determinación un parámetro numérico de rendimiento de campo lejano y

uso de un algoritmo matemático para determinar el rendimiento de campo lejano; y

en el que el uso del algoritmo matemático incluye el cálculo del parámetro de rendimiento de campo lejano

Procedimiento de determinación del rendimiento de dispositivos RFID.

Antecedentes de la invención

Esta invención se refiere al campo de dispositivos de identificación por radiofrecuencia (RFID), y específicamente a procedimientos para determinar o predecir el rendimiento de dichos dispositivos RFID.

Descripción de la técnica relacionada

Las marcas y etiquetas de identificación por radiofrecuencia (RFID) (denominadas colectivamente en la presente memoria descriptiva como "dispositivos") se usan ampliamente para asociar un objeto con un código de identificación. Los dispositivos RFID tienen generalmente una combinación de antenas y componentes electrónicos analógicos y/o digitales, que pueden incluir por ejemplo componentes electrónicos de comunicaciones, memoria de datos y lógica de control. Por ejemplo, las marcas RFID se usan en conjunción con cierres de seguridad en coches, para control de acceso a edificios y para seguimiento de inventario y paquetería. Aparecen algunos ejemplos de marcas y etiquetas RFID en las patentes de EE.UU. nº 6.107.920, 6.206.292 y 6.262.692.

Como se observa anteriormente, los dispositivos RFID se clasifican generalmente como etiquetas o marcas. Las etiquetas RFID son dispositivos RFID que se unen adhesivamente o por otros medios que tienen una superficie unida directamente a los objetos. En cambio, las marcas RFID se aseguran a los objetos por otros medios, como por ejemplo usando un fiador de plástico, una cuerda u otro medio de sujeción.

Los dispositivos RFID incluyen marcas y etiquetas activas, que incluyen una fuente de alimentación, y marcas y etiquetas pasivas, que no la incluyen. En el caso de marcas pasivas, para recuperar la información del chip, una "estación de base" o "lector" envía una señal de excitación a la marca o etiqueta RFID. La señal de excitación alimenta la marca o etiqueta, y los circuitos RFID transmiten la información almacenada de nuevo al lector. El "lector" recibe y decodifica la información de la marca RFID. En general, las marcas RFID pueden conservar y transmitir información suficiente para identificar de forma única a personas, paquetes, inventario y similares. Las marcas y etiquetas RFID también pueden caracterizarse como aquéllas en las que la información se escribe una sola vez (aunque la información puede leerse repetidamente), y aquéllas en las que la información puede escribirse durante el uso. Por ejemplo, las marcas RFID pueden almacenar datos del entorno (que pueden ser detectados por un sensor asociado), historias logísticas, datos de estado, etc.

A menudo es deseable probar el rendimiento de los dispositivos RFID para asegurar niveles aceptables de rendimiento. Dichas pruebas se han realizado a menudo en condiciones simuladas controladas. Por ejemplo, las marcas pueden someterse a prueba individualmente a una distancia similar a la esperada en el uso real de la marca, con el fin de determinar si la marca u otro dispositivo funciona aceptablemente.

Existen varios problemas potenciales con esta clase de pruebas. En primer lugar, dicha prueba requiere un espacio relativamente grande. En segundo lugar, el procedimiento no admite un entorno de fabricación de alto volumen. En tercer lugar, los resultados de dicha prueba pueden verse afectados por una diversidad de factores, como cambios en el entorno alrededor del dispositivo RFID sometido a prueba. Esto puede producir la necesidad de un control cuidadoso del entorno en el que se realiza la prueba, por ejemplo manteniendo la posición de cualquier elemento eléctricamente conductor en la proximidad de la prueba. Con el fin de mantener la repetibilidad de la prueba, puede ser deseable usar cámaras de prueba que aíslen el dispositivo sometido a prueba del entorno circundante. Se observará que en algunas circunstancias puede ser necesario aislar dispositivos individualmente durante la realización de la prueba, con el fin de evitar que la respuesta de un dispositivo RFID interfiera con la respuesta de otros dispositivos cercanos. Así, se comprenderá que la realización de dicha prueba en dispositivos con una separación estrecha, como los dispositivos de una lámina o un rollo, puede ser poco práctica y/o costosa.

A partir de lo anterior, se comprenderá que serían deseables mejoras en la prueba de dispositivos RFID.

El documento US-6.487.681-B1 desvela un dispositivo para transceptores de prueba. Los transceptores se encapsulan mediante laminación para formar una lámina de transceptores independientes. Los transceptores son sometidos a prueba en un artículo de dos piezas que forma un recinto que rodea a cada uno de los transceptores de la lámina. Cada recinto tiene una antena para emitir una señal de mando al transceptor en un nivel de potencia conocido y para recibir un mensaje de respuesta del transceptor.

Así, según un aspecto, un problema de la invención es mejorar la prueba de dispositivos RFID.

Este problema se resuelve mediante un procedimiento de determinación del rendimiento de campo lejano de un dispositivo RFID y además mediante un dispositivo RFID que tiene las características desveladas en las reivindicaciones independientes. En las reivindicaciones dependientes se definen formas de realización preferidas.

Resumen de la invención

Según un aspecto de la invención, un procedimiento de predicción o determinación del rendimiento de un dispositivo RFID incluye la predicción o determinación del rendimiento de campo lejano basándose en los resultados de pruebas o medidas de campo cercano.

El procedimiento de determinación del rendimiento de campo lejano de un dispositivo RFID incluye la medida del rendimiento de campo cercano, y la conversión matemática de una o más de las medidas de rendimiento de campo cercano en una predicción de rendimiento de campo lejano.

El procedimiento de determinación o predicción del rendimiento de un dispositivo RFID puede incluir el uso de resultados de prueba de campo cercano para predecir el rendimiento de campo lejano de uno o más de los siguientes parámetros: alcance, margen, sensibilidad, rendimiento de frecuencia, sensibilidad de lectura, sensibilidad de escritura, frecuencia operativa máxima y sensibilidad media sobre una banda de frecuencia dada.

Según la invención, un procedimiento de determinación del rendimiento de campo lejano de un dispositivo RFID incluye las etapas de: realización de pruebas de campo cercano en el dispositivo RFID; y determinación del rendimiento de campo lejano del dispositivo RFID a partir de los resultados de prueba de las pruebas de campo cercano.

Según otro aspecto más, un dispositivo RFID dispositivo de prueba comprende:

un bloque de material dieléctrico;

un acoplador de campo cercano dentro del bloque de material dieléctrico; y

un lector acoplado eléctricamente al acoplador de campo cercano; en el que

el acoplador de campo cercano está situado a una distancia específica de una superficie del dispositivo de prueba sobre el que se colocará un dispositivo RFID.

La superficie del dispositivo de prueba puede ser una superficie flexible de un material de superficie unido al bloque dieléctrico.

Para la realización de los fines anteriores y relacionados, la invención comprende las características señaladas en las reivindicaciones. La siguiente descripción y los dibujos anexos exponen en detalle ciertas formas de realización ilustrativas de la invención. Estas formas de realización son indicativas, sin embargo, de sólo algunas de las diversas formas en que pueden emplearse los principios de la invención.

Breve descripción de los dibujos

En los dibujos anexos, que no están necesariamente a escala:

La Figura 1 es un organigrama de alto nivel de un procedimiento de acuerdo con la presente invención;

La Figura 2 es un diagrama parcialmente esquemático de un dispositivo de prueba de campo cercano usado en el procedimiento de la Figura 1; y

La Figura 3 es una representación funcional del dispositivo de prueba de campo cercano de la Figura 2.

Descripción detallada

Un procedimiento de determinación del rendimiento de campo lejano de un dispositivo RFID, por ejemplo en o sobre una marca, etiqueta, paquete, película, cartón, envoltura o cualquier parte de los anteriores, incluye la realización de pruebas o medidas de campo cercano del dispositivo RFID, y la determinación o predicción del rendimiento de...

1. Un procedimiento (10) de determinación del rendimiento de campo lejano de un dispositivo RFID (22), comprendiendo el procedimiento:

realización (12) de una prueba de campo cercano en el dispositivo RFID (22);

determinación (14) del rendimiento de campo lejano del dispositivo RFID (22) a partir de los resultados de prueba de las pruebas de campo cercano; y

caracterizado porque la determinación (14) incluye

determinación un parámetro numérico de rendimiento de campo lejano y

uso de un algoritmo matemático para determinar el rendimiento de campo lejano; y

en el que el uso del algoritmo matemático incluye el cálculo del parámetro de rendimiento de campo lejano.

2. El procedimiento (10) según la reivindicación 1, en el que la realización de pruebas de campo cercano incluye:

colocación del dispositivo RFID (22) en proximidad a un acoplador de campo cercano (34) de un dispositivo de prueba de campo cercano (20); y

envío de señales desde el dispositivo de prueba (20) al dispositivo RFID (22), usando el acoplador de campo cercano (34), y un lector (28) del dispositivo de prueba (20).

3. El procedimiento (10) según la reivindicación 2, en el que el envío de señales incluye el envío señales en un intervalo de frecuencia.

4. El procedimiento (10) según la reivindicación 2 ó 3, en el que la realización de pruebas de campo cercano incluye además el dispositivo de prueba (20) que recibe señales del dispositivo RFID (22).

5. El procedimiento (10) según cualquiera de las reivindicaciones 2 a 4, en el que el dispositivo de prueba (20) incluye un cabezal de prueba (24) que incluye el acoplador de campo cercano (34) y un bloque de material dieléctrico (36) en el que está situado el acoplador de campo cercano (34).

6. El procedimiento (10) según la reivindicación 5, en el que el cabezal de prueba (24) incluye también una superficie flexible (40) en el bloque de material dieléctrico (36); y en el que la prueba incluye la colocación del dispositivo RFID (22) en la superficie flexible (40).

7. El procedimiento (10) según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6, en el que el uso del algoritmo matemático incluye el uso de un gráfico o diagrama de búsqueda.

8. El procedimiento según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 7, en el que la determinación incluye la determinación de si el dispositivo RFID (22) satisface un umbral de rendimiento de campo lejano.

9. El procedimiento según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 8, en el que la determinación incluye la determinación de uno o más entre sensibilidad, margen, frecuencia operativa máxima, forma de respuesta de rendimiento de frecuencia, respuesta media sobre una banda de frecuencias seleccionada, sensibilidad de lectura y sensibilidad de escritura.

10. El procedimiento según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 9, en el que la determinación incluye determinación de adecuación del rendimiento de campo lejano en diferentes entornos operativos de campo lejano.

11. El procedimiento según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 10, en el que la prueba incluye la realización de múltiples pruebas.

12. El procedimiento según la reivindicación 11, en el que la prueba incluye una o más entre

prueba en un intervalo de frecuencia,

prueba con múltiples dispositivos de prueba (20), y

prueba en múltiples entornos operativos.

13. El procedimiento (10) según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 12, en el que la prueba incluye la inducción de corriente y tensión en todas las partes críticas de una estructura de antena (42) del dispositivo RFID (22).

14. Un dispositivo de prueba de dispositivo RFID (20) que comprende:

un bloque de material dieléctrico (36);

un acoplador de campo cercano (34) dentro del bloque de material dieléctrico (36); y

un lector (28) acoplado eléctricamente al acoplador de campo cercano (34); en el que

el acoplador de campo cercano (34) está situado a una distancia especificada de una superficie (40) del dispositivo de prueba (20) sobre la cual se colocará un dispositivo RFID (22); y

en el que;

el dispositivo de prueba del dispositivo está configurado para realizar operaciones según el procedimiento (10) de determinación del rendimiento de campo lejano del dispositivo RFID (22) de cualquiera de las reivindicaciones 1 a 13.