GENERACION Y MEDIDA DE LA POTENCIA DE RADIO FRECUENCIA.
Un sistema de generación y medición de potencia de RF para entregar potencia de RF a una unidad a prueba y medir potencia de RF transmitida por ella a través de,
al menos, un conectador de RF de la unidad, comprendiendo el sistema, una parte principal (1) y una parte remota (2) conectada con la parte principal por medio de un enlace (3) y que puede conectarse con dicho conectador de RF de la unidad a prueba (4), en el que dicha parte principal (1) incluye medios de generación de potencia de RF (9) para entregar potencia de RF a dicha unidad a prueba (4) a través de dicho enlace (3), dicha parte remota (2) y dicho conectador de RF, caracterizado porque dicha parte remota (2) incluye medios de detección (5, 11) para detectar potencia de RF recibida de dicha unidad a prueba (4) a través de dicho conectador de RF y para detectar potencia de RF indicativa de dicha potencia de RF entregada a la unidad a prueba en dicho conectador de RF, y dichos medios de generación de potencia de RF son controlados en respuesta a una salida de dichos medios de detección, por lo que la potencia de RF entregada a la unidad a prueba en dicho conectador de RF tiene un valor predeterminado.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: RACAL INSTRUMENTS WIRELESS SOLUTIONS LIMITED.
Nacionalidad solicitante: Reino Unido.
Dirección: 480 BATH ROAD,SLOUGH, BERKSHIRE SL1 6BE.
Inventor/es: ROSE, IAN MICHAEL.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 18 de Febrero de 2003.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Mozambique, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, República Unida de Tanzania, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Zambia, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Guinea Ecuatorial, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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