APARATO PARA MEDIR UNA CARACTERISTICA OPTICA DE UNA LENTE EXAMINADA.
LA INVENCION SE REFIERE A UN APARATO PARA MEDIR UNA CARACTERISTICA OPTICA DE UNA LENTE EXAMINADA,
COMPUESTO POR UN PRIMER SISTEMA OPTICO DE MEDIDA PARA PROYECTAR UN PRIMER FLUJO DE LUZ DE MEDIDA SOBRE UNA LENTE EXAMINADA, QUE ES ALARGADA, PARA CUBRIR UN AREA RELATIVAMENTE GRANDE DE LA LENTE POR MEDIO DE, A LA VEZ, UNA PRIMERA RETICULA, Y UNA SEGUNDA RETICULA QUE TIENE UNA RELACION POSICIONAL PREDETERMINADA, CON RESPECTO A LA PRIMERA RETICULA, FORMANDO POR TANTO UNAS FRANJAS DE MOARE SOBRE LA MISMA, Y DETECTANDO ENTONCES LAS FRANJAS DE MOARE MEDIANTE UN FOTODETECTOR BIDIMENSIONAL, POR UN PRIMER DISPOSITIVO DE CALCULO PARA CALCULAR CADA UNA DE LAS ENERGIAS DE REFRACCION DEL PUNTO PRINCIPAL EN CADA PUNTO DE LA LENTE, MEDIANTE EL PROCESAMIENTO DE LOS RESULTADOS DETECTADOS POR EL PRIMER SISTEMA OPTICO DE MEDIDA, POR UN SEGUNDO SISTEMA OPTICO DE MEDIDA PARA PROYECTAR UN SEGUNDO FLUJO DE LUZ DE MEDIDA SOBRE UN AREA PEQUEÑA DE LA LENTE, DETECTANDO ENTONCES LA POSICION DE UNA IMAGEN DEL SEGUNDO FLUJO DE LUZ DE MEDIDA, MEDIANTE UN FOTODETECTOR DE POSICION, POR UN SEGUNDO DISPOSITIVO DE CALCULO PARA CALCULAR LA ENERGIA DE VERTICE DE RETORNO EN EL AREA PEQUEÑA, MEDIANTE EL PROCESAMIENTO DE LOS RESULTADOS DETECTADOS POR EL SEGUNDO SISTEMA OPTICO DE MEDIDA, Y POR UN DISPOSITIVO DE VISUALIZACION PARA OBTENER UNA DISTRIBUCION DE CADA UNA DE LAS ENERGIAS DE VERTICE DE RETORNO EN CADA PUNTO DE LA LENTE, BASANDOSE A LA VEZ EN LA ENERGIA DE VERTICE DE RETORNO Y EN LA ENERGIA DE REFRACCION DEL PUNTO PRINCIPAL, Y VISUALIZANDO ENTONCES LA MISMA DE FORMA GRAFICA.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: NIDEK CO., LTD..
Nacionalidad solicitante: Japón.
Dirección: 7-9, SAKAE-CHO,GAMAGORI-SHI , AICHI 443-0035.
Inventor/es: FUJIEDA, MASANAO, KAJINO, TADASHI, HIKOSAKA, YASUMI, UENO, TOKIO.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 16 de Abril de 2003.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01M11/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01M 11/00 Ensayo de aparatos ópticos; Ensayo de aparatos y estructuras por métodos ópticos, no previstos en otro lugar. › Ensayos de las propiedades ópticas.
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