ANALIZADOR DE PARTICULAS CON FILTRO DE LONGITUDES DE ONDA DESDOBLADO ESPECIALMENTE.
UN ANALIZADOR DE PARTICULA DE FLUORESCENCIA QUE INCLUYE UN TUBO DE FLUJO A TRAVES DEL CUAL LAS PARTICULAS MARCADAS CON DISTINTOS FLUOROCROMOS PASAN DESDE UNA PRIMERA LOCALIZACION A UNA SEGUNDA.
LAS EMISIONES DE LA PRIMERA Y SEGUNDA LOCALIZACION SE REPRODUCEN RESPECTIVAMENTE EN ELEMENTOS DE FILTRO PRIMEROS Y SEGUNDOS RESPECTIVOS, DE MANERA QUE LAS EMISIONES QUE ALCANZAN UN FOTODETECTOR DE DICHA PRIMERA LOCALIZACION, SE FILTRAN PRINCIPALMENTE POR EL PRIMER ELEMENTO DE FILTRO, MIENTRAS QUE LAS EMISIONES QUE ALCANZAN EL MISMO FOTODETECTOR DESDE LA SEGUNDA LOCALIZACION, SE FILTRAN PRINCIPALMENTE MEDIANTE UN SEGUNDO ELEMENTO DE FILTRO. EL PRIMER ELEMENTO DE FILTRO SE SELECCIONA PARA TRANSMITIR PREFERENCIALMENTE EMISIONES DESDE UN PRIMER FLUOROCROMO A COSTA DE LAS EMISIONES DE UN SEGUNDO FLUOROCROMO, MIENTRAS QUE EL SEGUNDO ELEMENTO DE FILTRO SE SELECCIONA PARA TRANSMITIR PREFERENCIALMENTE EMISIONES DESDE EL SEGUNDO FLUOROCROMO A COSTA DE LAS EMISIONES DEL PRIMER FLUOROCROMO. LA PRIMERA LOCALIZACION SE ILUMINA MEDIANTE UN LASER QUE EXCITA PREFERENCIALMENTE EL PRIMER FLUOROCROMO A COSTA DEL SEGUNDO, MIENTRAS QUE LA SEGUNDA LOCALIZACION SE ILUMINA MEDIANTE UN LASER QUE EXCITA PREFERENCIALMENTE EL SEGUNDO FLUOROCROMO A COSTA DEL PRIMERO. LA SALIDA DEL FOTODETECTOR INCLUYE UN PRIMER IMPULSO QUE SE CORRESPONDE PREDOMINANTEMENTE CON LA CANTIDAD DEL PRIMER FLUOROCROMO EN LA PARTICULA; SUBSECUENTEMENTE APARECE UN SEGUNDO IMPULSO QUE SE CORRESPONDE PREDOMINANTEMENTE CON LA CANTIDAD DEL SEGUNDO FLUOROCROMO EN LA PARTICULA. EL USO DE LOS DOS FILTROS MINIMIZA LA DIAFONIA ENTRE EMISIONES DE FLUOROCROMO EN LOS IMPULSOS DE SALIDA DEL FOTODETECTOR.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: BECTON, DICKINSON AND COMPANY.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: ONE BECTON DRIVE,FRANKLIN LAKES, NEW JERSEY 074.
Inventor/es: HOFFMAN, ROBERT A., TREYTL, WILLIAM J.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 3 de Septiembre de 2003.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N15/14 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 15/00 Investigación de características de partículas; Investigación de la permeabilidad, del volumen de los poros o del área superficial efectiva de los materiales porosos (identificación de microorganismos C12Q). › Investigación por medios electroópticos.
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