ADAPTADOR GENERADOR DE PRUEBA DE INTERFAZ.
SE DESCRIBE UN ADAPTADOR DE PRUEBA DE INTERFAZ GENERICA PARA CONEXION ENTRE UNA ESTACION DE PRUEBA Y UNA UNIDAD SOMETIDA A PRUEBA.
EL ADAPTADOR DE PRUEBA DE LA INTERFAZ GENERICA INCLUYE UN BASTIDOR DE INTERFAZ Y UN CONJUNTO DE TARJETAS DE CIRCUITO INTERCAMBIABLES CONFIGURADAS PARA ENCAMINAR LAS SEÑALES ENTRE LA ESTACION DE PRUEBA Y LA UNIDAD EN PRUEBAS. EL BASTIDOR DE INTERFAZ INCLUYE UN PLANO DE INTERFAZ QUE TIENE UN CONJUNTO DE PATILLAS DE CONTACTO O SONDAS CON MUELLE Y EL GRUPO DE TARJETAS DE CIRCUITO TIENE UNA SERIE DE ZONAS TERMINALES DE CONTACTO, ALINEADAS PARA ACOPLARSE CON LAS PATILLAS DE CONTACTO. LAS CONEXIONES ELECTRICAS ENTRE LA ESTACION DE PRUEBAS Y LA UNIDAD EN PRUEBAS PUEDEN RECONFIGURARSE CON SOLO CAMBIAR EL GRUPO DE TARJETAS DE CIRCUITO INTERCAMBIABLES. SE PROPORCIONA UN BASTIDOR DE PRESION PARA SUJETAR DE FORMA SEGURA EL CONJUNTO DE TARJETAS DE CIRCUITO CONTRA EL PLANO DE INTERFAZ CON OBJETO DE PROPORCIONAR CONEXION ELECTRICA. UN MECANISMO DE LEVA Y RANURA ANGULAR DE LEVA ACCIONADO POR UN BRAZO DE PALANCA TIRA DEL BASTIDOR DE PRESION HACIA EL BASTIDOR DE INTERFAZ.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: LEAR ASTRONICS CORPORATION.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 3400 AIRPORT AVENUE, P.O. BOX 442,SANTA MONICA, CA 90406-0442.
Inventor/es: OSTER, MELVIN, G., FUCHS, BRIAN, REID, KENNETH.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 18 de Septiembre de 1996.
Fecha Concesión Europea: 8 de Mayo de 2002.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
Países PCT: Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Suecia, Portugal, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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